[发明专利]固体密度测量方法和检验靶材密度是否合格的方法

权利要求书

1.一种固体密度测量方法，其特征在于，

提供固体试样；

测量固体试样在空气中的质量为第一测量质量M0；

将固体试样浸没在液体中，测量固体试样在液体中的质量为第二测量质量M2；

根据M0+ρ_空gV_物＝M2+ρ_液gV_物，获取固体试样的体积；其中，ρ_空为空气的密度、ρ_液为液体的密度；

根据固体试样的体积以及实际质量，获取固体试样的密度，所述实际质量为M0+ρ_空gV_物或M2+ρ_液gV_物。

2.根据权利要求1所述的固体密度测量方法，其特征在于，测量所述第一质量M0和所述第二质量M2的方法包括：

提供电子天平，所述电子天平具有称量盘，在所述称量盘上安装测量辅助装置，所述测量辅助装置包括：

与所述称量盘连接的检测支架，所述检测支架上设置有托盘，所述托盘置于所述称量盘上方；

将盛有液体的第一容器放在电子天平的称量盘上；

在所述液体中设置第二容器，且使所述第二容器完全浸没在第一容器中的液体内，所述第二容器和所述托盘通过载物工作线连接，以使第二容器不接触第一容器底部；

安装完所述测量辅助装置后，对电子天平进行去皮调零处理，以去除所述测量辅助装置对所述称量盘施加的力，使得天平的读数为零；

对电子天平进行去皮调零后，将固体试样放在第二容器中，所述液体浸没所述固体试样且不溢出第一容器，记录电子天平显示的读数，得到第二测量质量M2。

3.根据权利要求2所述的固体密度测量方法，其特征在于，测量所述第一质量M0的方法包括：将固体试样放置于所述托盘上，记录电子天平显示的读数，得到第一测量重量M0。

4.根据权利要求2所述的固体密度测量方法，其特征在于，将固体试样放在第二容器中之前，还包括步骤：

在电子天平外设置第三容器，所述第三容器中盛有所述液体，将固体试样浸没在所述第三容器中的液体中；

待固体试样在所述第三容器的液体中充分浸湿后，取出所述固体试样；

去除所述固体试样后，去除所述固体试样表面的液珠。

5.根据权利要求2所述的固体密度测量方法，其特征在于，所述将固体试样放在第二容器中的时间大于等于30min后，再记录电子天平显示的读数。

6.根据权利要求2所述的固体密度测量方法，其特征在于，所述液体的密度小于等于所述固体试样的密度。

7.根据权利要求2所述的固体密度测量方法，其特征在于，所述液体为水。

8.根据权利要求2所述的固体密度测量方法，其特征在于，

测量所述液体的温度，所述温度计不接触第一容器或第二容器的底部和侧壁；

测量所述液体的温度后，查所述液体在不同温度下的密度对照表获得液体的密度ρ_液。

9.根据权利要求2所述的固体密度测量方法，其特征在于，所述载物工作线的直径小于等于0.1mm，所述载物工作线的材料为无吸水性材料。

10.根据权利要求9所述的固体密度测量方法，其特征在于，所述载物工作线的材料为聚乙烯。

11.根据权利要求3所述的固体密度测量方法，其特征在于，所述第二容器的底部和侧壁镂空。