[实用新型]一种LED电性测试仪器

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种LED测试仪器，具体是指一种LED电性测试仪器。

背景技术

在LED的生产过程中，需要使用LED测试仪器对LED进行电性测试，以将LED分成各种等级。目前，LED测试仪器通常采用探针的形式进行LED电性测试，探针制作工艺复杂，一般不容易自行加工制造，在使用中容易损耗损坏，经常需要拆卸装配，影响生产效率，且时常更换探针会增加成本。另外，由于探针安装节距和单针安装的原因，某些LED产品在高速测试过程中容易在针脚间卡料，导致产品受损或探针打弯打断，或者由于探针过细，所测试LED产品位置稍微偏差则接触点对接不上而导致测试失败，对于某些细小的SMD式LED电性测试不尽理想。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种电性接触面积大、不易损耗、维护简单、成本低的LED电性测试仪器。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种LED电性测试仪器，包括相互分隔且绝缘设置的第一固定座和第二固定座，在所述的第一固定座和所述的第二固定座的内侧中部的相邻位置，分别设有两个相邻的电性接触引脚，所述的电性接触引脚为块状且间隙设置，每个所述的电性接触引脚的底部连接有测试电源线。

优选地，所述的第一固定座和所述的第二固定座设有与所述的电性接触引脚相配合的引脚孔，所述的引脚孔内还设有与所述的电性接触引脚相抵靠的弹性件，所述的电性接触引脚活动卡置于所述的引脚孔中。

优选地，所述的电性接触引脚的顶端面具有向内倾斜的可放置LED组件的斜面。

优选地，所述的电性接触引脚的顶端面具有可放置LED组件的凸台，所述的凸台由大小均匀的凸起组成。

采用上述技术方案后，本实用新型与现有的背景技术相比，具有如下优点：

1、本实用新型采用电性接触引脚形式进行电性测试，电性接触引脚为块状，与LED组件的电性接触面积大，测试便捷、准确，而且电性接触引脚耐用、不易损耗、维护简单、使用成本低；

2、电性接触引脚的顶端面具有斜面或凸点式凸台，将与LED组件底部接触的部分从面接触转为线接触或多点式接触，克服了因LED组件底部的平整度问题而造成的与电性接触引脚的顶端面接触不良的缺陷，可提高测试接触的稳定可靠性，使测试时的接触可简单达成，减少了LED组件底部碰撞损坏的可能性；

3、电性接触引脚的下端设有弹性件，LED组件放于电性接触引脚上时，弹性件可起到缓冲向下压力和向上回弹顶起，使电性接触引脚与LED组件接触紧密，达到良好的通电性能。

附图说明

图1为本实用新型实施例一的结构示意图；

图2为图1沿A-A剖视图；

图3为本实用新型实施例一的工作状态图；

图4为本实用新型实施例二的结构示意图。

主要组件符号说明：

100：第一固定座，110：引脚孔，200：第二固定座，300：电性接触引脚，310：斜面，320：凸台，400：绝缘片，500：弹簧，600：LED组件。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

实施例一：

一种LED电性测试仪器，包括相互分隔的第一固定座100和第二固定座200，第一固定座100和第二固定座200之间设置有绝缘片400，在第一固定座100和第二固定座200的内侧中部的相邻位置，分别设有两个相邻的与电性接触引脚300相配合的引脚孔110，引脚孔110内还设有与电性接触引脚300相抵靠的弹簧500，电性接触引脚300活动卡置于引脚孔110中，电性接触引脚300为块状且间隙设置，电性接触引脚300的顶端面具有向内倾斜的可放置LED组件600的斜面310，每个电性接触引脚300的底部连接有测试电源线。

请参阅图3所示，由于电性接触引脚300为块状，与LED组件600的接触面积大，测试便捷、准确；