[实用新型]一种用于测试SMD型石英晶体谐振器的测试座

说明书

技术领域

本专利涉及一种用于测试SMD型石英晶体谐振器的测试座，属于片式高精度频率元器件领域。

背景技术

MD-20测试设备的测试座使用导电膜将SMD型石英晶体谐振器的电极与测试设备的PI网络测试电路相接触进行电气性能测试。在测试过程中，导电膜直接与谐振器的电极接触，造成导电膜损耗，测试的谐振器电气性能参数指标（特别是电阻和DLD指标）产生误差，将合格产品判定为不合格产品，且比例高，尤其生产公差较小的产品时尤为突出。且导电膜材料价格昂贵，需进口，国内无相应替换材料。因此需要改变现有的状态，降低误判比例，提高测试合格率，节约损耗。

发明内容

本实用新型提供的是一种用于测试SMD型石英晶体谐振器的测试座，其目的旨在使用双头探针替换原测试座中的导电膜，降低误判比例，提高测试合格率，节约损耗。

 本实用新型的技术解决方案：其结构是包括测试底座（负载电路）、定位销、产品固定板（用于放置产品）、探针固定板、双头探针，其中测试底座上放置探针固定板，探针固定板上有定位销，双头探针6安装在探针固定板上，探针固定板与产品固定板间通过定位销固定。

本实用新型的优点：解决了原测试座因导电膜磨损造成的产品测试精度低、产品误判率高的问题，使该型产品的大批量测试成为可能。同时使用双头探针替换导电膜，减少对进口材料的依赖，节约生产材料成本。

附图说明

附图1是原带导电膜测试座的结构示意图。

附图2 是本实用新型的结构示意图。

图中的1是测试底座（负载电路）、2是导电膜、3是定位销、4是产品固定板（用于放置产品）、5是探针固定板、6是双头探针。

具体实施方式

对照附图2，其结构是包括测试底座（负载电路）1、定位销3、产品固定板（用于放置产品）4、探针固定板5、双头探针6，其中测试底座1上放置探针固定板5，探针固定板5上有定位销3，双头探针6安装在探针固定板5上，探针固定板5与产品固定板4间通过定位销3固定。

确保产品电极依然朝下，改变测试座部分。去除了导电膜部分，增加一层PCB板，产品电极对应接触PI网络测试电路处打孔，孔中增加双头探针，使产品的电极通过双头探针接触PI网络测试电路，形成导电回路，达到测试SMD型石英晶体谐振器各种电气性能指标的目的。

因增加探针，需增加测试头高度，但是送料（supply）系统、测试（test）系统和取料（receiver）系统高度固定，不容易调整，因此，降低测试台的高度。为确保放料准确、测试过程不产生飞料和取料容易， 采用斜面+垂直面的方式，这样取放料容易，定位也准确。为保证更换探针容易，采用定位销将探针固定板和产品固定板固定在一起。