[实用新型]金属掩模板面形测量系统有效

专利信息
申请号: 201220010146.0 申请日: 2012-01-11
公开(公告)号: CN202432996U 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: 魏志凌;高小平;张炜平 申请(专利权)人: 昆山允升吉光电科技有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 金属 模板 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种金属掩模板面形测量系统,其特征在于,包括:控制系统,通过软件自动完成对所述金属掩模板的测量;测量元件,对所述金属掩模板板面进行测量,并将测量数据及时反馈回给数据处理系统;数据处理系统,根据测试的数据进行模拟,从而得到金属掩膜板的面形。

2.根据权利要求1所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,所述测量元件为非接触式光学元件。

3.根据权利要求2所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,所述测量元件为激光高度传感器。

4.根据权利要求1所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,所述控制系统控制所述测量元件,对所述金属掩模板板面进行扫描式测量。

5.根据权利要求1所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,所述控制系统控制所述测量元件,对所述金属掩模板板面的指定区域进行测量。

6.根据权利要求1所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,所述数据处理系统在测试进行的过程中,根据测试的数据进行模拟,从而得到金属掩膜板的面形。

7.根据权利要求1所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,所述数据处理系统在测试完毕后,根据测试的数据进行模拟,从而得到金属掩膜板的面形。

8.根据权利要求1所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,测量系统还包括显示器,用于显示通过数据处理系统处理得到的面形图。

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