[实用新型]金属掩模板面形测量系统有效
申请号: | 201220010146.0 | 申请日: | 2012-01-11 |
公开(公告)号: | CN202432996U | 公开(公告)日: | 2012-09-12 |
发明(设计)人: | 魏志凌;高小平;张炜平 | 申请(专利权)人: | 昆山允升吉光电科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金属 模板 测量 系统 | ||
1.一种金属掩模板面形测量系统,其特征在于,包括:控制系统,通过软件自动完成对所述金属掩模板的测量;测量元件,对所述金属掩模板板面进行测量,并将测量数据及时反馈回给数据处理系统;数据处理系统,根据测试的数据进行模拟,从而得到金属掩膜板的面形。
2.根据权利要求1所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,所述测量元件为非接触式光学元件。
3.根据权利要求2所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,所述测量元件为激光高度传感器。
4.根据权利要求1所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,所述控制系统控制所述测量元件,对所述金属掩模板板面进行扫描式测量。
5.根据权利要求1所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,所述控制系统控制所述测量元件,对所述金属掩模板板面的指定区域进行测量。
6.根据权利要求1所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,所述数据处理系统在测试进行的过程中,根据测试的数据进行模拟,从而得到金属掩膜板的面形。
7.根据权利要求1所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,所述数据处理系统在测试完毕后,根据测试的数据进行模拟,从而得到金属掩膜板的面形。
8.根据权利要求1所述的金属掩模板面形测量系统,其特征在于,测量系统还包括显示器,用于显示通过数据处理系统处理得到的面形图。
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