[实用新型]测试高纯试剂中微量金属杂质的亚沸蒸馏装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及分析测试用装置领域，尤其是涉及一种测试高纯试剂中微量金属杂质的亚沸蒸馏装置。

背景技术

高纯化学试剂，通常含量都控制在99.9％以上，控制指标非常严格，特别是微量金属杂质，但是，往往高纯试剂在测试中微量金属杂质的含量仅仅在几个ppm以内，因此ICP测量金属杂质前，需要对样品进行富集，通常对化学试剂采用恒沸蒸馏法进行去除主体进行蒸馏，然而，高纯试剂在沸腾冷凝的过程中，受热温度高，沸腾剧烈，使得高纯试剂中的金属杂质伴随蒸发，降低了富集的效果，使得测试结果偏小。

实用新型内容

本实用新型实施方式提供一种测试高纯试剂中微量金属杂质的亚沸蒸馏装置，可以解决目前高纯试剂在沸腾冷凝的过程中，受热温度高，沸腾剧烈，使得高纯试剂中的金属杂质伴随蒸发，降低了富集的效果，使得测试结果偏小的问题。

为解决上述问题本实用新型提供的技术方案如下：

本实用新型实施方式提供一种测试高纯试剂中微量金属杂质的亚沸蒸馏装置，该装置包括：

电子控温加热器、支架、密封样品台和冷凝罩；其中，

所述电子控温加热器设置在支架上，电子控温加热器上方设置放置样品的密封样品台，密封样品台与所述电子控温加热器的距离为5～8cm，所述密封样品台上设有温度传感器，所述密封样品台上设有扣住样品的冷凝罩。

上述装置中，所述支架、密封样品台和冷凝罩下部均设有液封，所述支架、密封样品台和冷凝罩的空腔内各设有一个通气管，三者的通气管相互连通；所述支架、密封样品台和冷凝罩的各自通气管高度均高于各自液封的液面。

上述装置还包括：电子控温仪，所述温度传感器和电子控温加热器通过电线与电子控温仪相连，由所述电子控温仪根据所述温度传感器对电子控温加热器进行温度控制。

上述装置中，所述电线外部采用PFA材料或耐腐蚀塑料包裹。

上述装置中，所述冷凝罩为双层圆形罩，其内层为冷凝水层，外部为冷却亚沸的高纯试剂层，顶部设有进水口，底部设有出水口。

由上述提供的技术方案可以看出，本实用新型实施方式提供的蒸馏装置结构简单，避免了明火加热、易于控制，可以满足多种高纯试剂微量金属杂质的测量，避免了富集过程中的恒沸沸腾下微量金属元素的流失、测量结果准确。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。

图1为本实用新型实施例提供的蒸馏装置的示意图；

图中各标号对应的部件名称为：1-电子控温加热器；2-支架；3-密封样品台；4-样品；5-温度传感器；6-冷凝罩；7-液封；8-通气管；9-电线；10-电子控温仪；11-冷凝罩进水口；12-冷凝罩出水口。

具体实施方式

下面结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型的保护范围。

下面将结合附图对本实用新型实施例作进一步地详细描述。

本实用新型实施例提供一种测试高纯试剂中微量金属杂质的亚沸蒸馏装置，如图1所示，该装置包括：电子控温加热器、支架、密封样品台和冷凝罩；

其中，所述电子控温加热器设置在支架上作为热源，电子控温加热器上方设置放置样品的密封样品台，密封样品台与所述电子控温加热器的距离为5～8cm，所述密封样品台上设有温度传感器，所述密封样品台上设有扣住样品的冷凝罩。

上述装置中，所述支架、密封样品台和冷凝罩下部均设有液封，所述支架、密封样品台和冷凝罩的空腔内各设有一个通气管，三者的通气管相互连通；所述支架、密封样品台和冷凝罩的各自通气管高度均高于各自液封的液面。

上述装置还包括：电子控温仪，所述温度传感器和电子控温加热器通过电线与电子控温仪相连，由所述电子控温仪根据所述温度传感器对电子控温加热器进行温度控制。

上述装置中，所述电线外部采用PFA材料或耐腐蚀塑料包裹。

上述装置中，所述冷凝罩为双层圆形罩，其内层为冷凝水层，外部为冷却亚沸的高纯试剂层，顶部设有进水口，底部设有出水口。