[实用新型]一种探针测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，特别涉及一种电子产品通电测试用的探针测试装置。 

背景技术

随着电子产品微型化程度不断提高，电子产品的结构尺寸越来越小，且表面形状不规则，给生产，组装，测试带来极大的困难和不便。 

现有一电子产品，要求在短时间内对该电子产品的16个点位进行通电测试，电子产品测试点位不碰面，其中14个点位处于垂直面上，2个点位处于斜面上，测试采用测试探针插接测试点位的方式来实现电子产品测试点位与控制器之间的连接，由于电子产品本身体积小，测试点位多且不平面、不共面，测试点位周围其他电子元器件密集，为防止测试探针与其他电子元器件发生干涉，测试探针需垂直插接于测试点位中，同时，需确保短时间内，每个测试点位均有电流通过，在没有辅助设备的情况下很难完成此项测试作业，因此，现有技术中广泛使用探针测试装置来连接产品测试点位以实现快速测试，然而现有技术中的探针测试装置只能实现单方向面上的测试点位的快速插接，对于与该方向面相邻的且成一定夹角的斜面上的2个测试点位无法完成插接，测试操作时，垂直面上的14个测试点位可由探针测试装置来进行插接，斜面上的2个测试点位需由操作人员手动插接，再连通电源来完成测试，由此，不可避免地造成产品测试速度慢、效率低，最终导致产能低下。 

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种探针测试装置，以达到加快测试速度，提高测试效率，从而提高产能的目的。 

为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下： 

一种探针测试装置，包括基座、固设于所述基座一端的产品载具，及固设于所述基座另一端的水平气缸，所述水平气缸的缸体上连接有第一探 针组，所述第一探针组通过一倾斜垫块连接有一倾斜气缸，所述倾斜气缸的缸体上连接有第二探针组，所述第一探针组包括水平探针，所述第二探针组包括倾斜探针。 

优选的，所述倾斜垫块包括互成夹角的平面和斜面，所述平面与第一探针组相连接，所述斜面与所述倾斜气缸相连接。 

优选的，所述第一探针组设置有第一基板和第一支撑板，所述第一支撑板设于所述第一基板上方且与所述第一基板垂直连接，所述水平探针贯穿于所述第一支撑板预设的探针孔中；所述第一基板的下表面与所述水平气缸的缸体相连接。 

优选的，所述第二探针组设置有第二基板和第二支撑板，所述第二支撑板设于所述第二基板上方且与所述第二基板垂直连接，所述倾斜探针贯穿于所述第二支撑板预设的探针孔中；所述第二基板的下表面与所述倾斜气缸的缸体相连接。 

优选的，所述第一支撑板和所述第二支撑板的数量均为2个。 

通过上述技术方案，本实用新型提供的一种探针测试装置通过水平气缸和倾斜气缸来分步实现水平探针和倾斜探针对产品的通电测试，从而有效避免了产品上其他电子元件的干涉，确保了每个测试点位都准确测试，具有测试速度快，效率高，提高产能的优点。 

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。 

图1为本实用新型实施例所公开的一种探针测试装置示意图。 

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。 

本实用新型提供了一种探针测试装置，如图1所示，所述探针测试装置包括基座1，产品载具2，水平气缸3，第一基板41，第一支撑板42，水平探针43，倾斜垫块5，倾斜气缸6，第二基板71，第二支撑板72，倾 斜探针73。 

所述产品载具2固设于所述基座1的一端，所述水平气缸3固设于所述基座1的另一端，所述水平气缸3的缸体上连接有第一探针组，所述第一探针组上端通过一倾斜垫块5连接有一倾斜气缸6，所述倾斜气缸6的缸体上连接有第二探针组，所述第一探针组包括水平探针43，所述第二探针组包括倾斜探针73。 

于本实施例中，所述第一探针组设置有第一基板41和第一支撑板42，所述第一支撑板42平行设置有2个，且均设于所述第一基板41上方与所述第一基板41垂直连接，所述水平探针43贯穿于所述第一支撑板42预设的探针孔中；所述第一基板41的下表面与所述水平气缸3的缸体相连接。