[实用新型]用于检测纳米材料拉伸和压缩力学性能的微机械结构有效

专利信息
申请号: 201220032845.5 申请日: 2012-02-02
公开(公告)号: CN202614584U 公开(公告)日: 2012-12-19
发明(设计)人: 王卫东;易成龙;郝跃;牛翔宇;纪翔 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01N3/02 分类号: G01N3/02;B81B7/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 纳米 材料 拉伸 压缩 力学性能 微机 结构
【权利要求书】:

1.用于检测纳米材料拉伸和压缩力学性能的微机械结构,包括一个框形支架(101),其特征在于:所述框形支架(101)上通过至少四根对称的上竖直梁(102)连接两个相互对称设置的上层平台(104);两个上层平台(104)的两端分别通过下支撑梁(103)支撑于框形支架(101)的支座上;所述两个上层平台(104)的下方通过至少四根对称的斜梁(105)连接一个下层平台(106)。

2.根据权利要求1所述的用于检测纳米材料拉伸和压缩力学性能的微机械结构,其特征在于:所述上层平台(104)为两个端部呈针尖状、且针尖端相对设置用于固定一维纳米材料的水平平台。

3.根据权利要求1所述的用于检测纳米材料拉伸和压缩力学性能的微机械结构,其特征在于:所述在上层平台(104)与下层平台(106)之间设置有两组数量相等并且相对于微结构垂直中心线对称的斜梁(105)。

4.根据权利要求3所述的用于检测纳米材料拉伸和压缩力学性能的微机械结构,其特征在于:所述斜梁(105)沿上层平台(104)的两端向微结构垂直中心线方向对称倾斜设置,或沿上层平台(104)垂直中心线方向至下层平台(106)上台面两端对称倾斜设置。

5.根据权利要求1或3所述的用于检测纳米材料拉伸和压缩力学性能的微机械结构,其特征在于:所述上竖直梁(102)和斜梁(105)分为左右两组,每组至少采用两根上竖直梁(102)和两根斜梁(105)分别将框形支架(101)与上层平台(104)及下层平台(106)相连。

6.根据权利要求1所述的用于检测纳米材料拉伸和压缩力学性能的微机械结构,其特征在于:所述下层平台(106)的中部表面开有用于对微机械结构施加载荷的定位孔。

7.根据权利要求1所述的用于检测纳米材料拉伸和压缩力学性能的微机械 结构,其特征在于:所述下支撑梁(103)为竖直梁或对称倾斜梁。 

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