[实用新型]天线测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及天线测试技术，尤其涉及一种天线测试系统。

背景技术

互调性能参数，驻波比，隔离度是天线三个重要的指标，天线测试一般都需要对这三个指标进行测试。其中，用于测量互调性能参数的互调测试需要向天线输入大功率信号，驻波比和隔离度测试需要向天线输入小功率信号。

现有技术的一种天线测试方法是，将互调测试与“驻波比和隔离度”测试分开进行，即，可以将天线与互调测试设备连接进行互调测试，再把连接线拆下来，连接天线与“驻波比和隔离度”测试设备。但是，由于两次测试间需要更换连接线，使得测试效率较低。

现有技术的另一种天线测试方法是，使用大功率射频开关在两种测试间进行切换，即，可以将大功率射频开关的一端连接天线，另一端分别连接互调测试设备、及“驻波比和隔离度”测试设备，并通过大功率射频开关实现测试通道的选择，即选择将天线连接互调测试设备进行互调测试，或者将天线连接“驻波比和隔离度”测试设备。这种方式由于不需要更换连接线，测试效率有所提高；但是，大功率射频开关在长时间通过用于测量互调性能参数的大功率信号且经常切换时，其自身容易产生较大的互调信号，将对天线返回的互调信号造成干扰，使得测试结果不准确。

实用新型内容

本实用新型提供一种天线测试系统，目的是提高天线测试的效率和精度。

本实用新型提供一种天线测试系统，包括：互调测试设备、驻波比和隔离度测试设备、以及至少一个定向耦合器组；

所述定向耦合器组至少包括两个级联的定向耦合器；所述定向耦合器组的输入端口连接天线，输出端口连接所述互调测试设备，耦合端口连接所述驻波比和隔离度测试设备。

如上所述的天线测试系统，所述定向耦合器组包括第一定向耦合器和第二定向耦合器；所述第一定向耦合器包括：第一耦合端口、第一输入端口和第一输出端口；所述第一输入端口用于连接天线端口；所述第二定向耦合器包括：第二耦合端口、第二输入端口和第二输出端口；所述第二输入端口连接所述第一输出端口，所述第二输出端口连接所述互调测试设备；所述第一耦合端口和第二耦合端口连接所述驻波比和隔离度测试设备。

如上所述的天线测试系统，所述定向耦合器组还包括第三定向耦合器，所述第三定向耦合器级联在所述第一定向耦合器和第二定向耦合器之间；所述第三定向耦合器包括：第三耦合端口、第三输入端口和第三输出端口；所述第三输入端口连接所述第一输出端口，所述第三输出端口连接所述第二输入端口，所述第三耦合端口连接所述驻波比和隔离度测试设备。

如上所述的天线测试系统，所述定向耦合器组与驻波比和隔离度测试设备之间还包括选择开关；所述选择开关分别与所述定向耦合器组的耦合端口、以及所述驻波比和隔离度测试设备连接。

如上所述的天线测试系统，所述天线测试系统还包括小功率射频开关；所述小功率射频开关的一端连接所述定向耦合器组中的定向耦合器的耦合端口，另一端连接驻波比和隔离度测试设备。

如上所述的天线测试系统，所述小功率射频开关与驻波比和隔离度测试设备之间还包括选择开关；所述选择开关分别与所述小功率射频开关、以及驻波比和隔离度测试设备连接。

如上所述的天线测试系统，所述互调测试设备包括双工器或者多工器，还包括频谱仪；所述双工器或者多工器与所述频谱仪连接。

如上所述的天线测试系统，所述互调测试设备还包括功放器，所述功放器连接在双工器或者多工器与频谱仪之间。

如上所述的天线测试系统，驻波比和隔离度测试设备包括网络分析仪。

如上所述的天线测试系统，所述定向耦合器组的数量为两个。

本实用新型天线测试系统的技术效果是：通过使用定向耦合器组连接互调测试设备、驻波比和隔离度测试设备，使得不用更换连接线，测试效率高；并且，定向耦合器组不会如现有技术的大功率射频开关那样产生较大的干扰信号，所以提高了天线测试的精度。

附图说明

图1为本实用新型天线测试系统一实施例的结构示意图；

图2为本实用新型天线测试系统另一实施例的结构示意图。

附图标记说明：

11-互调测试设备；    12-驻波比和隔离度测试设备；  13-定向耦合器组；

14-天线；            15-天线端口；                16-第一定向耦合器；

17-第二定向耦合器；  18-天线端口；                19-第三定向耦合器；