[实用新型]多晶硅棒倒角测量工装有效
申请号: | 201220067452.8 | 申请日: | 2012-02-28 |
公开(公告)号: | CN202494415U | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 吴冬生 | 申请(专利权)人: | 常州天合光能有限公司 |
主分类号: | G01B5/24 | 分类号: | G01B5/24 |
代理公司: | 常州市维益专利事务所 32211 | 代理人: | 王凌霄 |
地址: | 213031 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多晶 倒角 测量 工装 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种多晶硅棒倒角测量工装。
背景技术
现多晶硅棒倒角加工完成后在测量倒角大小时,使用普通的直尺,最小刻度为1mm,而硅棒倒角大小规格值为0.5-2mm。实际操作中测量数据需估读,误差较大。且在2人以上测量时,数据判定偏差加大,易引起争议。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是:提供一种多晶硅棒倒角测量工装,降低测量值估读产生的误差,使测量数据更精确,避免争议。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种多晶硅棒倒角测量工装,包括刻度板和刻度板上的刻度,刻度板至少设置一排刻度,每一排中的刻度的宽度都不同,由窄到宽依次平行地在刻度板上排列,刻度的宽度从倒角宽度范围的下限值开始以0.1mm为单位依次递增至倒角宽度范围的上限值。
刻度板为矩形,刻度在刻度板的表面分为上下两排,两排刻度水平对称。
刻度板的正反面两面都具有刻度。
本实用新型的有益效果是:通过使用本测量工装与硅棒倒角比对,找出与硅棒倒角最接近的对比刻度作为测量值。比对刻度范围:0.5-2mm,范围内比对刻度以0.1mm递增。简单,便捷,能准确的测量出尺寸。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明;
图1是本实用新型的正视图;
图2是本实用新型的侧视图;
图中,1.刻度板,2.刻度。
具体实施方式
如图1和2所示,一种多晶硅棒倒角测量工装,包括刻度板1和刻度板1上的刻度2,刻度板1至少设置一排刻度,每一排中的刻度2的宽度都不同,由窄到宽依次平行地在刻度板1上排列,刻度2的宽度从倒角宽度范围的下限值开始以0.1mm为单位依次递增至倒角宽度范围的上限值。
倒角宽度范围的下限值为0.5mm,倒角宽度范围的上限值为2mm。刻度2的宽度从0.5、0.6、0.7、0.8、0.9、1.0、1.1、1.2、1.3、1.4、1.5、1.6、1.7、1.8、1.9依次递增至2.0。
刻度板1为矩形,刻度2在刻度板1的表面分为上下两排,两排刻度2水平对称。刻度板1的正反面两面都具有刻度2。
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