[实用新型]一种集成电路四通道共享测量系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及集成电路测量技术，具体地，涉及一种集成电路四通道共享测量系统。

背景技术

目前，在集成电路测试行业中，测试效率及成本控制是评估一款测试设备的一个主要指标，而这两个系统指标相互制约。传统测试设备中，均选用两种模式进行工作：

第一种工作模式：如图1所示，多路硬件驱动资源，所有驱动源通过矩阵开关共享同一测试通道，目前国产设备均采用该结构进行设计。采用该原理，可极大降低设备成本，但测试效率相对较低。

第二种工作模式：如图2所示，每路硬件驱动资源配置一路独立的测量通道，国外高端产品多采用此种设计方案。采用该原理，测试效率大幅提升，同时设备成本随之大幅提升。

随着集成电路产业的飞速发展，集成电路产品中出现了大量在同一芯片中封装多颗器件的情况，如图3所示。面对此种芯片，若采用上述第一种工作模式，需要测试设备依次测试四颗器件，效率降低4倍；若采用上述第二种工作模式，则需配置4台设备进行测试，成本上涨4倍。

在实现本实用新型的过程中，发明人发现现有技术中至少存在测试效率低、成本高与功能少等缺陷。

发明内容

本实用新型的目的在于，针对上述问题，提出一种集成电路四通道共享测量系统，以实现测试效率高、成本低与功能多的优点。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种集成电路四通道共享测量系统，包括并行设置的至少四组硬件驱动源、矩阵开关组K、以及并行设置的四组测量通道；

所述至少四组硬件驱动源，通过矩阵开关组K，分别与四组测量通道电连接；所有硬件驱动源的电信号传输至矩阵开关组K，通过矩阵开关组K，实现任意四个硬件驱动源的同时测试。

进一步地，所述每组硬件驱动源，包括并行设置的四路硬件驱动源。

进一步地，在所有硬件驱动源中，当被测信号为一路硬件驱动源A1时，通过矩阵开关组K的分配，相应硬件驱动源的待测信号A1进入测量通道1，通过测量通道1输出用于被计算机直接读取的数据。

进一步地，在所有硬件驱动源中，当被测信号为四路硬件驱动源A1～A4或少于四路硬件驱动源时，相应硬件驱动源的待测信号组通过矩阵开关组K，被分配至四个测量通道1～4，通过测量通道1～4分别输出用于被计算机直接读取的数据。

进一步地，在所有硬件驱动源中，当被测信号为不超过四路的任意硬件驱动源组合时，通过矩阵开关组K，将每个待测信号指定至任意一个测量通道，通过相应的测量通道分别输出用于被计算机直接读取的数据。

进一步地，在所有硬件驱动源中，当被测信号为超过四路的任意硬件驱动源组合时，矩阵开关组K将待测信号分配为四路一组进行测量，通过相应的测量通道分别输出用于被计算机直接读取的数据。

本实用新型各实施例的集成电路四通道共享测量系统，由于包括并行设置的至少四组硬件驱动源、矩阵开关组、以及并行设置的四组测量通道；至少四组硬件驱动源，通过矩阵开关组，分别与四组测量通道电连接；所有硬件驱动源的电信号传输至矩阵开关组，通过矩阵开关组，可以实现任意四个硬件驱动源的同时测试；从而可以克服现有技术中测试效率低、成本高与功能少的缺陷，以实现测试效率高、成本低与功能多的优点。

本实用新型的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型而了解。本实用新型的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

下面通过附图和实施例，对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为典型共享测量通道工作模式的工作原理示意图；

图2为典型独立测量通道工作模式的工作原理示意图；

图3为同一芯片中封装4颗器件的结构示意图；

图4为本实用新型集成电路四通道共享测量系统的工作原理示意图；

图5为LM324芯片的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。