[实用新型]FPGA开发板I/O检测系统有效
申请号: | 201220081971.X | 申请日: | 2012-03-07 |
公开(公告)号: | CN202583376U | 公开(公告)日: | 2012-12-05 |
发明(设计)人: | 李芳芳;高玉芳 | 申请(专利权)人: | 东莞市翔丰电子科技实业有限公司;东莞博用电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 谭一兵;曾云腾 |
地址: | 523850 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | fpga 开发 检测 系统 | ||
1.一种FPGA开发板I/O检测系统,其特征在于:所述FPGA开发板I/O检测系统为I/O开路检测系统(100),所述I/O开路检测系统(100)包括I/O单元(110)、输入单元(120)及输出单元(130),所述输入单元(120)与所述I/O单元(110)电性连接,所述输出单元(130)与所述I/O单元(110)电性连接,所述I/O单元(110)包括若干I/O端口(111),所述输入单元(120)输入为高电平(VCC),所述I/O端口(111)短接在一起。
2.根据权利要求1所述的FPGA开发板I/O检测系统,其特征在于:所述高电平(VCC)电压为3.3V。
3.一种FPGA开发板I/O检测系统,其特征在于:所述FPGA开发板I/O检测系统为I/O短路检测系统(200),所述I/O短路检测系统(200)包括I/O单元(210)、输入单元(220)及输出单元(230),所述输入单元(220)与所述I/O单元(210)电性连接,所述输出单元(230)与所述I/O单元(210)电性连接,所述I/O单元(210)包括若干I/O端口(211),所述I/O端口(211)为双向端口,所述输入单元(220)包括若干输入端口(221),所述输入端口(221)分别与所述I/O端口(211)一端电性连接;所述输出单元(230)包括若干输出端口(231),所述输出端口(231)分别与所述I/O端口(211)另一端电性连接。
4.根据权利要求3所述的FPGA开发板I/O检测系统,其特征在于:所述I/O端口(211)呈阵列分布或列分布。
5.根据权利要求3所述的FPGA开发板I/O检测系统,其特征在于:在一个时钟周期内,其中一I/O端口(211)为输出I/O端口,其余相邻I/O端口(211)为输入I/O端口。
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