[实用新型]一种LED显示屏模组硅胶平整度检测工具有效

专利信息
申请号: 201220090542.9 申请日: 2012-03-12
公开(公告)号: CN202494422U 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 李明;黄加园;张余涛;袁米云 申请(专利权)人: 厦门强力巨彩光电科技有限公司
主分类号: G01B5/28 分类号: G01B5/28
代理公司: 厦门龙格专利事务所(普通合伙) 35207 代理人: 钟毅虹
地址: 361000 福建省厦门市火炬*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 led 显示屏 模组 硅胶 平整 检测工具
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及LED显示屏模组品质检测,特别是涉及一种LED显示屏模组硅胶平整度检测工具。

背景技术

在LED显示屏模组的制造中,当完成灌硅胶、固化的工序后,需要对LED显示屏模组上所灌的硅胶的平整度进行检测。但由于LED灯的排布密集以致于空间狭小,并且硅胶质地柔软,给硅胶的平整度检测带来了不便。

整个模组的胶面高度是否水平、高度是否达标,都没有一个好方法测量,得不到一个量化的数据。采用常规的测量工具,如游标卡尺,高度规,千分尺,普通直尺等,都不能对模组的硅胶高度进行方便、有效地测量。以往只能通过目测来判断LED模组所灌的硅胶的平整度,这样就会使产品的质量得不到有效的管控,差异性大。

实用新型内容

针对现有技术中存在的缺陷,本实用新型提供一种LED显示屏模组硅胶平整度检测工具,使用该工具可以解决方便、有效测量LED显示屏模组硅胶平整度的问题。

为实现上述目的,本实用新型的技术方案为:

一种LED显示屏模组硅胶平整度检测工具,包括支架和测试针。支架主体部分是一矩形金属片,在矩形金属片宽度方向设置有复数个等间隔测试针插孔,测试针插孔中套入横截面形状与测试针孔横截面形状匹配的测试针,测试针在测试针插孔中可以自由滑动,为了防止测试针滑出测试针插孔,在测试针的上端设置有与测试针长度方向垂直的“一”字形上限位帽,在测试针的下端设置有与测试针长度方向垂直的“一”字形下限位帽。

在支架上方沿测试针长度方向延伸出与测试针对应数目的矩形齿,矩形齿上设置有刻度线,测试针对应矩形齿刻度线位置设置有一指示条,当下限位帽下沿与支架测试基准线平齐时候,测试针指示条指向刻度线的零刻度位置。

本实用新型的有益之处在于:

当采用所述检测工具检测LED显示屏模组硅胶平整度时,所述测试工具可以方便地嵌入到灌胶、固化完成后的LED显示屏模组灯面中,并使支架测试基准线与硅胶面平齐,当沿测试工具长度方向移动所述测试工具时,所述测试工具上设置的测试针就能随着硅胶面的高低不平而上下移动,通过观测测试针上指示条对应指示的刻度线的位置,就能方便地读出硅胶面高低不平的幅度值的大小,从而可以方便地检测出平整度不合格的产品。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

图1是LED显示屏模组硅胶平整度检测工具示意图;

图2是LED显示屏模组硅胶平整度检测工具检测示意图;

具体实施方式

如图1所示,一种LED显示屏模组硅胶平整度检测工具3,包括支架1和测试针2。支架1主体部分是一矩形金属片,在矩形金属片宽度方向设置有复数个等间隔测试针插孔11,测试针插孔11中套入横截面形状与测试针插孔11横截面形状匹配的测试针2,测试针2在测试针插孔11中可以自由滑动,为了防止测试针2滑出测试针插孔11,在测试针2的上端设置有与测试针2长度方向垂直的“一”字形上限位帽211,在测试针2的下端设置有与测试针2长度方向垂直的“一”字形下限位帽212。

在支架1上方沿测试针2长度方向延伸出与测试针2对应数目的矩形齿12,矩形齿12上设置有刻度线121,测试针2对应矩形齿12刻度线121位置设置有一指示条22,当下限位帽212下沿与支架1的测试基准线13平齐时候,测试针2指示条22指向刻度线121的零刻度位置。

如图1或图2所示,当采用所述检测工具3检测LED显示屏模组硅胶平整度时,所述测试工具3可以方便地嵌入到灌胶、固化完成后的LED显示屏模组灯面4中,并使支架1的测试基准线13与硅胶面41平齐,当沿测试工具3长度方向移动所述测试工具3时,所述测试工具3上设置的测试针2就能随着硅胶面41的高低不平而上下移动,通过观测测试针2上指示条22对应指示的刻度线121的位置,就能方便地读出硅胶面41高低不平的幅度值的大小,从而可以方便地检测出硅胶平整度不合格的产品。

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