[实用新型]用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测设备技术领域，特别涉及电话机芯片测试设备技术领域，具体是指一种用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备。

背景技术

在模拟电路芯片测试领域，一直以来以测试电路的直流特性为主，近年来的一些测试设备也可用于测试芯片的部分交流特性，但多以测试频率为主。也有部分的测试设备可以测试运放的增益、信号失真、功率等参数，但是都仅限于单个运放的测试。

与此同时，随着电话会议技术的普及和受到商业客户的欢迎，越来越多的电话采用了免提多语音通话芯片，以提供多路语音信号，实现电话会议功能。对于免提多语音通话芯片的测试就需要在同一芯片上有多路放大通道，并且需要克服相互间的串扰，现有的测试设备都不能达到这一要求，无法对免提多语音通话芯片进行稳定的，适合量产的大规模测试，由此，对免提多语音通话芯片的大规模生产，进一步的对于具有电话会议功能的电话机的普及和应用都造成了严重的制约。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种能够有效地进行芯片交直流信号的电位、增益、失真、输出管饱和压降的测试，且避免多路信号间的相互干扰，保持信号稳定，适用于大规模生成应用，且结构简单，成本低廉的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备。

为了实现上述的目的，本实用新型的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备具有如下构成：

该测试设备包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡。其中，所述的测试仪包括DVI双通道信号源端口(以下称DVI源)、OVI双通道信号源端口(以下称OVI源)和ACSM精密交流源表单元音频信号源端口(以下称ACSM源)，所述的DVI源和OVI源均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，所述的ACSM源通过所述的专用转接卡连接所述的待测免提多语音通话芯片。

该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的DVI源包括8路DVI双通道电压电流源端口，所述的OVI源包括8路OVI双通道电压电流源端口，所述的8路DVI双通道电压电流源端口和8路OVI双通道电压电流源端口均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片。

该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的专用转接卡包括多个信号输入点，所述的ACSM源通过屏蔽线及BNC(同轴电缆接插件)接头连接所述的各信号输入点。

该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的专用转接卡还包括中心探针卡，所述的各信号输入点以环形布地方式设置于所述的中心探针卡的周围。

该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的中心探针卡还设置有芯片压点。

该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的待测免提多语音通话芯片通过所述的芯片压点连接所述的专用转接卡的中心探针卡。

该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的待测免提多语音通话芯片包括多个电压电流待测引脚以及多个交流输出幅度、增益、失真参数测试引脚，所述的测试仪还包括交流源信号采集端口，所述的各电压电流待测引脚通过专用转接卡的引出线连接所述的通用转接卡，所述的各交流输出幅度、增益、失真参数测试引脚通过屏蔽线及BNC接头连接所述的测试仪的交流源信号采集端口。

采用了该实用新型的电话机中免提多语音通话芯片的测试设备该测试设备，由于其包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡。测试仪的DVI源和OVI源均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，测试仪的ACSM源通过所述的专用转接卡连接所述的待测免提多语音通话芯片。且所述的专用转接卡包括多个信号输入点和中心探针卡，所述的各信号输入点以环形布地方式设置于所述的中心探针卡的周围，所述的ACSM源通过屏蔽线及BNC接头连接所述的各信号输入点。使得采用该结构的测试设备能够有效地进行芯片交直流信号的电位、增益、失真、输出管饱和压降的测试，且避免多路信号间的相互干扰，保持信号稳定，适用于大规模生成应用，且本实用新型的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备结构简单，成本低廉。

附图说明

图1为本实用新型的电话机中免提多语音通话芯片的测试设备的结构示意图。

图2为实际应用本实用新型的测试设备进行免提多语音通话芯片测试中的测量PIN脚连接示意图。

图3为实际应用本实用新型的测试设备进行免提多语音通话芯片测试中的AST2000测试仪的线路图。