[实用新型]一种抗折抗压试验机测控系统有效

专利信息
申请号: 201220102852.8 申请日: 2012-03-19
公开(公告)号: CN202548001U 公开(公告)日: 2012-11-21
发明(设计)人: 沈波 申请(专利权)人: 杭州朗杰测控技术开发有限公司
主分类号: G01N3/00 分类号: G01N3/00;G05B19/04
代理公司: 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217 代理人: 胡根良
地址: 310004 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 抗压 试验 测控 系统
【权利要求书】:

1.一种抗折抗压试验机测控系统,包括用于信号处理的测控模块与用于信号放大的功放模块,其特征在于:所述测控模块与所述功放模块之间通过光耦实现信号传输。

2.根据权利要求1所述的一种抗折抗压试验机测控系统,其特征在于:所述测控模块包括CPU单元与信号接收单元,所述抗折抗压试验机的试验数据通过信号接收单元传输至所述CPU单元,所述CPU单元连接所述光耦。

3.根据权利要求2所述的一种抗折抗压试验机测控系统,其特征在于:所述信号接收单元包括抗折传感器接口与抗压传感器接口,所述抗折传感器接口通过AD转换电路连接所述CPU单元,所述抗压传感器接口通过所述AD转换电路连接所述CPU单元。

4.根据权利要求3所述的一种抗折抗压试验机测控系统,其特征在于:所述AD转换电路集成于所述CPU单元中,或者所述AD转换电路为ADC转换器。

5.根据权利要求2所述的一种抗折抗压试验机测控系统,其特征在于:所述测控模块还包括键盘、数码管接口。

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