[实用新型]一种抗折抗压试验机测控系统有效
申请号: | 201220102852.8 | 申请日: | 2012-03-19 |
公开(公告)号: | CN202548001U | 公开(公告)日: | 2012-11-21 |
发明(设计)人: | 沈波 | 申请(专利权)人: | 杭州朗杰测控技术开发有限公司 |
主分类号: | G01N3/00 | 分类号: | G01N3/00;G05B19/04 |
代理公司: | 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217 | 代理人: | 胡根良 |
地址: | 310004 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 抗压 试验 测控 系统 | ||
1.一种抗折抗压试验机测控系统,包括用于信号处理的测控模块与用于信号放大的功放模块,其特征在于:所述测控模块与所述功放模块之间通过光耦实现信号传输。
2.根据权利要求1所述的一种抗折抗压试验机测控系统,其特征在于:所述测控模块包括CPU单元与信号接收单元,所述抗折抗压试验机的试验数据通过信号接收单元传输至所述CPU单元,所述CPU单元连接所述光耦。
3.根据权利要求2所述的一种抗折抗压试验机测控系统,其特征在于:所述信号接收单元包括抗折传感器接口与抗压传感器接口,所述抗折传感器接口通过AD转换电路连接所述CPU单元,所述抗压传感器接口通过所述AD转换电路连接所述CPU单元。
4.根据权利要求3所述的一种抗折抗压试验机测控系统,其特征在于:所述AD转换电路集成于所述CPU单元中,或者所述AD转换电路为ADC转换器。
5.根据权利要求2所述的一种抗折抗压试验机测控系统,其特征在于:所述测控模块还包括键盘、数码管接口。
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