[实用新型]一种用于光模块测试的连接器及测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及光纤通信领域，尤其涉及一种用于光模块测试的连接器及测试系统。

背景技术

现有技术中，测试光模块时需要先将光模块的端面清洁干净，然后再进行测试，通常是用光纤端面清洁机的清洁头伸入光模块中对光模块的端面进行清洁，然后用测试跳线和光模块连接进行测试。这样方式存在以下弊端：1）每测试一次需要用光纤端面清洁机伸进去清洁receptacle端面，费工费时，导致效率低；2）多次测试时，会到导致测试跳线和光模块出现频繁的插拔动作，从而容易导致光模块报废。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于光模块测试的连接器及测试系统，解决现有光模块测试时频繁使用光纤端面清洁机清洁，及频繁拔插测试跳线和光模块导致光模块易报废的问题，通过连接器，减少光纤端面清洁机的使用次数，从而保护了模块的receptacle，同时在测试时只需要将短跳线与测试跳线连接即可，避免了光模块与测试跳线频繁的直接接触，减少了光模块的报废率。

为了实现上述目的，本实用新型提供了一种用于光模块测试的连接器，连接器包括短跳线，短跳线一端为第一接口，用于连接待测试的光模块，短跳线另一端为第二接口，用于连接到测试设备。第一接口与待测试的光模块接口相适应，比如为跳线接口之类的。第二接口与测试设备的接口相适应，比如为SC接口。其中，所述短跳线为优选为短光纤跳线。

相应的，本发明还提供了一种光模块测试系统，包括待测光模块、测试设备和连接器，连接器一端连接待测光模块，连接器另一端连接到测试设备。

优选的，所述连接器与测试设备上的测试跳线通过法兰连接。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

1）在光模块上加上连接器后，减少了对光纤端面清洁机的使用次数，从而保护了模块的receptacle；

2）避免了测试时测试跳线和光模块频繁接触，减少了光模块的报废率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图：

图1为本实用新型连接器的结构示意图；

图2为本实用新型光模块测试系统结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

参见图1，为本实用新型用于光模块测试的连接器结构示意图，包括短跳线2，短跳线一端为跳线接口6，用于连接待测试光模块1的跳线端，短跳线另外一端为SC接口，用于连接到测试设备，其中，所述短跳线为短光纤跳线。在短跳线2连接到光模块之前，需要先将光模块端面清洁干净，短光纤跳线在插入光模块之前也要确保其端面干净无污。本实用中连接有短光纤跳线的光模块主要运用于光模块测试时使用，短光纤跳线一端插入光模块后，短光纤SC端务必带上防尘帽，下面结合图2介绍本实用新型光模块测试系统结构。

参见图2为本实用新型光模块测试系统结构示意图，该光模块测试系统包括待测光模块1和测试设备3，在待测光模块1端面上连接有一根连接器，连接器为图2中的短跳线2，所述短跳线2的另一端在测试时，通过连接法兰盘与测试设备3上的测试跳线4相连接。其中，所述短跳线为短光纤跳线。优选的，所述短跳线与测试设备上的测试跳线通过法兰5连接，光模块流入调测试后，在短光纤SC端连接法兰盘，法兰盘的另一端连接FC-SC光纤（连接前确保将法兰盘两边的光纤端面干净），根据调测试产品所需连线连接其余的光纤。每次换模块时，都要确认连接在法兰盘两边的光纤干净无脏污，另外在清洁短光纤时要注意扶住模块，不能将模块悬吊。

另外，利用本实用新型提供的连接器时，有监控的模块在校准测试前需取下短光纤，清洁模块后做校准测试。不带监控的光模块在检功率前取下短光纤，清洁后做功率检查。取下的短光纤需要清洁端面后带上防尘冒，以便后续使用。

通过本实用新型的连接器，每次测试前只需要用无尘纸清洁连接器的另一端即可，而不需要用光纤端面清洁机，减少了对光纤端面清洁机的使用次数。同时，在测试时只需要将连接器与测试跳线连接即可，从而避免了光模块与测试跳线频繁的直接接触。