[实用新型]扫描装置

说明书

技术领域

本实用新型是有关一种扫描装置，特别是一种可调整出光范围的扫描装置。

背景技术

透射式扫描装置是利用影像传感器撷取透射过被扫描物件(object)的光线以形成一扫描影像。然而，现有的透射式扫描装置的光源为固定宽度，因此，当被扫描物件的宽度小于光源宽度时，扫描物件的边缘即产生溢光现象，导致扫描影像的影像质量不佳。有鉴于此，如何减少溢光现象以提升扫描影像的影像质量便是目前极需努力的目标。

实用新型内容

本实用新型提供一种扫描装置，其利用一光线限制模块来动态调整出光范围的宽度等于或小于被扫描物件的宽度，藉此减少溢光现象，进而提升扫描影像的影像质量。

本实用新型一实施例的扫描装置包括一光源、一扫描模块以及一光线限制模块。光源用以提供一光线以照射一物件。扫描模块包括一影像传感器，其用以撷取透射物件的光线以形成一扫描影像。光线限制模块设置于光源以及扫描模块之间，用以可调整地限制光线自光源至扫描模块的一路径范围。

本实用新型的扫描装置利用一光线限制模块来动态调整出光范围的宽度，使其宽度等于或小于被扫描物件的宽度，藉此可大幅减少溢光现象，进而提升扫描影像的影像质量。

附图说明

图1为一示意图，显示本实用新型第一实施例的扫描装置。

图2为一示意图，显示本实用新型第二实施例的扫描装置。

图3为一示意图，显示本实用新型第三实施例的扫描装置。

图4为一示意图，显示本实用新型第四实施例的扫描装置。

附图标号：

11光源

111发光组件

12扫描模块

13遮光组件

13a～13d遮光组件

131侦测模块

132控制模块

14物件导引器

20物件

A扫描方向

W物件宽度

具体实施方式

以下通过具体实施例配合所附的图式详加说明，当更容易了解本实用新型的目的、技术内容、特点及其所达成的功效。

请参照图1，本实用新型的一实施例的扫描装置包括一光源11、一扫描模块12以及一光线限制模块。光源11用以提供一光线以照射一物件20。举例而言，光源11可包括至少一发光组件111，例如发光二极管或冷阴极荧光灯(cold cathode fluorescent lamp，CCFL)。扫描模块12包括一影像传感器，用以撷取透射物件20的光线以形成一扫描影像。举例而言，影像传感器可为一电荷耦合组件(Charge Coupled Device，CCD)、互补型金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor，CMOS)传感器或接触式影像传感器(Contact Image Sensor，CIS)。物件20可为文件或底片等被光线透射的物件。需注意的是，本实用新型所属技术领域的技术人员可以理解扫描模块12更包括传动装置等现有组件。传动装置用以驱动扫描模块12以及物件20沿一扫描方向相对移动以扫描物件20。因此，实现扫描装置的功能所需的现有组件不再赘述。

接续上述说明，光线限制模块设置于光源11以及扫描模块12之间。光线限制模块可调整地限制光线自光源11至扫描模块12的一路径范围。举例而言，请参照图1，光线限制模块可包括一遮光组件13，通过改变遮光组件13的位置可以调整发自光源11的光线入射物件20的照明宽度。于一实施例中，本实用新型的扫描装置包括一物件导引器14。物件导引器14可沿着扫描方向的垂直方向移动以抵靠物件20，藉以导引物件20在一限制宽度内通过扫描模块12。换言之，限制宽度大约为物件20的宽度W。将遮光组件13与物件导引器14连接，且随着物件导引器14移动，依据此结构，当调整物件导引器14时，遮光组件13亦移动至适当位置以限制光源11发出的光线通过限制宽度入射至扫描模块12。

需注意的是，于图1所示的实施例中，遮光组件13是设置于物件20的入光侧，但不限于此，遮光组件亦可设置于光源11的出光侧(如图1的遮光组件13a所示)、物件20的出光侧(如图1的遮光组件13b所示)、扫描模块12的入光侧(如图1的遮光组件13c所示)，或者是上述位置的组合。