[实用新型]绝缘电阻表使用的高压测试线有效

专利信息
申请号: 201220114396.9 申请日: 2012-03-23
公开(公告)号: CN202494700U 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 胡晓晖;胡学军 申请(专利权)人: 武汉市康达电气有限公司
主分类号: G01R1/06 分类号: G01R1/06;G01R35/00
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 涂洁
地址: 430070 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 绝缘 电阻 使用 高压 测试
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种高压测试线,具体地说是一种用于绝缘电阻表的高压测试线。

背景技术

高电压绝缘电阻表在使用和检定中,其输出的直流高电压要经L端钮用高测试线接到被测试品或检定用的电阻器的一端上,产生一个流经试品或电阻器的直流电流。该电流又从绝缘电阻表的E端口流回到仪表内,用以表征试品或检定用电阻器的绝缘电阻值,为了保障其测量准确度,绝缘电阻表设有屏蔽G端,G端通常仅接入到试品的中间绝缘部位或检定用电阻器的外壳上,用于吸收从试品外表面或电阻器支撑部分泄漏的直流电流,不让其进入E端口,影响正确测量。

目前用于绝缘电阻表的接L端的高压测试线通常仅由连接高压探棒的高压线芯和包裹在高压线芯上的绝缘层构成,测试或检定中,高压测试线需悬空,以防止其对地产生直流泄漏电流而引起测量误差,这会给绝缘电阻表的使用和检定造成影响。另外,在绝缘测试现场有很强的空间电磁干扰,空间电磁易从高压测试线以电容耦合的方式进入绝缘电阻表,从而对测试造成干扰。

发明内容

本实用新型的目的是为了解决上述技术问题,提供一种结构简单,使用简便、对测试干扰小、可有效防止高压测试线的直流泄漏、减少高电压绝缘电阻表测量误差的绝缘电阻表使用的高压测试线。

技术方案包括一端与高压探棒连接的高压芯线及包裹在高压芯线上的绝缘层,所述绝缘层包括内层的高耐压绝缘层和外层的低压绝缘层,所述高耐压绝缘层和低压绝缘层之间设有低压屏蔽层。

所述包裹有高耐压绝缘层的高压芯线的另一端与测试线高压插头连接,所述包裹有低压绝缘层的低压屏蔽层的另一端与低压屏蔽插头连接。

所述低压屏蔽层与高压芯线间保持5厘米以上的安全爬电距离。

有益效果:

在高压芯线上由增设覆盖低压屏蔽层,并在高压芯线和低压屏蔽层之间设高耐压绝缘层,在低压屏蔽层外设低压绝缘层,从而使高压测试线由过去的两层结构改为由内至外四层结构,检测时,可使高压芯线经测试线高压插头连接高电压绝缘电阻表L端外,还可使低压屏蔽层经低压屏蔽插头连接高电压绝缘电阻表的屏蔽G端,这样可以有效吸收其对地产生直流泄漏电流,而无需保持高压测试线的持续悬空,避免由此造成的测量误差,使高压绝缘电阻表的使用和检定过程操作更为简便;并且低压屏蔽层抗空间电磁干扰效果好,避免空间电磁易从高压测试线以电容耦合的方式进入高压绝缘电阻表,最大程度的减少测量误差,提高测量精度。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图。

其中,1-高压芯线、2-高压探棒、3-高压探针、4-高耐压绝缘层、5-测试线高压插头、6-低压屏蔽层、7-低压绝缘层、8-低压屏蔽插头。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步解释说明:

高压芯线1一端与带有高压探针3的高压探棒2连接,所述高压芯线1上由内至外依次包裹有内层的高耐压绝缘层4、低压屏蔽层6和外层的低压绝缘层7,所述包裹有高耐压绝缘层4的高压芯线1的另一端与测试线高压插头5连接,所述包裹有低压绝缘层7的低压屏蔽层6的另一端与低压屏蔽插头8连接。所述低压屏蔽层6与高压芯线1间保持5厘米以上的安全爬电距离。

所述高压芯线1由多股细铜线绕制形成,一端连接高压探棒2,另一端连接测试线高压插头5;高耐压绝缘层4包裹在高压芯线之外,可以采用例如铁氟龙材料,此材料的特点是可以耐受几万伏的电压而不击穿,而且流过此高耐压绝缘层4的泄漏电流非常小,且泄漏电流只能由此流至低压屏蔽层6,所述高耐压绝缘层4一直包裹延伸至高压芯线1与测试线高压插头5的连接处,从而最大程度减小直流泄漏电流;所述测试线高压插头5可插入高电压绝缘电阻表的L端(测试孔L);在所述高耐压绝缘层4之外包裹的低压屏蔽层6可以为铜网材料,在低压屏蔽层6外包裹有低压绝缘层7(可以为柔性塑料材料),起到电气保护的作用。低压绝缘层7一直包裹延伸至低压屏蔽层6的另一端与低压屏蔽插头8的连接处,所述低压屏蔽插头8可插入高电压绝缘电阻表的G端(测试孔G)。

使用时,高压探棒2上的高压探针3连接被测试品或检定用的电阻器的一端,测试线高压插头5可插入高电压绝缘电阻表的L端(测试孔L),低压屏蔽插头8可插入高电压绝缘电阻表的G端(测试孔G)。高电压绝缘电阻表的其余连接方式同现有技术。使用此结构的高压测试线可有效防止高压测试线的直流泄漏和空间电磁干扰对绝缘电阻测试的影响。

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