[实用新型]发光二极管性能快速测试仪

说明书

技术领域

本实用新型属于发光二极管检测技术领域，是关于一种发光二极管性能快速测试仪。 

背景技术

用于测试发光二极管性能的方法很多，但能够快速检测、且有性能对比的测试装置未见成品面市。对于发光二极管使用量大的生产领域，如果发光二极管不经过认真地检测与筛选，一旦性能有问题或发光较弱的发光二极管焊接到电路板上以后，重新返工拆换很不方便，而且很容易损坏电路板的焊盘，且非常影响生产效率。一般测试装置有时需要测量两次，虽然两次测量过程不算复杂，但对于发光二极管使用量较大的工程，如，在制作LED广告或交通指示灯等批量测试就非常浪费时间。本实用新型所述的发光二极管性能快速测试仪是一个特殊的测试电路，该测试仪不用区分发光二极管的极性即可进行检测，快速判定其性能及其发光亮度情况。发光二极管只要经过一次测量就可得到两个测试结果，比用普通万用表等测试手段有着简单、直观、省时、效率高优点。 

以下详细说明本实用新型所述的发光二极管性能快速测试仪在制作过程中所涉及的有关技术内容。 

实用新型内容

发明目的及有益效果：一般测试装置有时需要测量两次，虽然两次测量过程不算复杂，但对于发光二极管使用量较大的工程，如，在制作LED广告或交通指示灯等批量测试就非常浪费时间。本实用新型所述的发光二极管性能快速测试仪是一个特殊的测试电路，该测试仪不用区分发光二极管的极性即可进行检测，快速判定其性能及发光亮度情况。发光二极管只要经过一次测量就可得到两个测试结果，比用普通万用表等测试手段有着简单、直观、省时、效率高等优点。 

技术方案：发光二极管性能快速测试仪，它包括6V直流电源、低频自激振荡电路、反相器电路、发光二极管测试端子、直流电源指示电路，其特征在于： 

低频自激振荡电路：包括运算放大器IC1、电阻R1、电阻R2、电阻R3和电阻R4，运算放大器IC1使用的集成电路型号为LM324，运算放大器IC1的第1 脚接发光二极管测试端子A和电阻R3的一端，运算放大器IC1的第2脚接电阻R3的另一端和电阻R4的一端，电阻R4的另一端接运算放大器IC1的第7脚，运算放大器IC1的第3脚接电阻R1的一端和电阻R2的一端，运算放大器IC1的第4脚和电阻R1的另一端接6V直流电源正极VCC，运算放大器IC1的第11脚和电阻R2的另一端接电路地GND； 

反相器电路：由运算放大器IC1、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9和电解电容C1组成，运算放大器IC1的第6脚接电阻R8的一端、电阻R9的一端，运算放大器IC1的第7脚接电阻R6的一端，电阻R6的另一端接发光二极管测试端子B，电阻R8的另一端接6V直流电源正极VCC，电阻R9的另一端接电路地GND，运算放大器IC1的第5脚接电解电容C1的正极和电阻R7的一端，运算放大器IC1的第7脚接电阻R7的另一端，电解电容C1的负极接电路地GND。 

直流电源指示电路：电阻R5的一端接6V直流电源正极VCC，电阻R5的另一端接发光二极管LED的正极，发光二极管LED的负极接电路地GND。 

电路工作原理：发光二极管性能快速测试仪由一路运算放大器接成低频自激振荡器，在输出端间歇地输出高电平或低电平；另一路运算放大器接成反相器形式。当振荡器电路输出高电平时，反相器则输出低电平；低频自激振荡器电路输出低电平时，反相器输出高电平。若在A和B两输出端驳接1支发光二极管，不论驳接发光二极管的极性如何，发光二极管总是随着振荡器电路的振荡频率，使发光二极管间歇地导通发光。直流电源电路中的发光二极管LED为直流电源状态指示，并可作为被检测发光二极管发光亮度的对照。运算放大器IC1选用的型号为LM324或LM358。 

附图说明

附图1是本实用新型提供一个发光二极管性能快速测试仪的实施例电路工作原理图。 

具体实施方式

按照附图1所示发光二极管性能快速测试仪的电路工作原理图和附图说明及以下所述的元器件技术要求进行实施，即可实现本实用新型。 

元器件的选择及其技术参数 

IC1为运算放大器，推荐使用的集成电路型号为LM324或LM358，它是由四组相互独立的运算放大器组成的电路，它可在较宽的单电源电压范围内工作， 亦可在双电源条件下工作，电源电压工作范围：单电源3V～30V，双电源±1.5V～±15V；本实施例只用了四组运算放大器LM324中的IC1-A、IC1-D两个； 

LM324型集成电路的封装为双列直插式，其14个引脚和功能分别是：