[实用新型]一种测量玻璃基板条纹间距的装置有效

专利信息
申请号: 201220136343.7 申请日: 2012-04-01
公开(公告)号: CN202485609U 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: 周波;王丽红;李兆廷 申请(专利权)人: 东旭集团有限公司
主分类号: G01B5/14 分类号: G01B5/14;G01B11/14
代理公司: 石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙) 13123 代理人: 王苑祥
地址: 050021 *** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 玻璃 板条 间距 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种玻璃基板检测装置,属于液晶玻璃基板制造用辅助检测设备,特别是一种测量玻璃基板条纹间距的装置。

背景技术

目前,玻璃基板从生产线上下来完成切割后,需要对玻璃基板进行条纹检测来判定基板质量,并通过条纹在玻璃基板上的位置来判断生产线上需要进行调整的环节或位置。现有技术,大多数采用由点光源、玻璃基板支撑装置、投影幕墙组成的条纹检测系统来进行检测,其原理是由光源照射装载在玻璃基板支撑装置上的玻璃,并在投影幕墙上形成投影,点光源及投影幕墙形成基板条纹间隔尺度放大机构,检查人员用肉眼观察投影幕墙上的投影情况来判断玻璃基板条纹缺陷,但玻璃基板的条纹检测不仅要求能够清晰的将玻璃基板的条纹显示在投影幕墙上供检查人员判定,而且要求能够方便的对条纹位置、间距进行测量。同时,为了凸显条纹、提高检查效果,检查人员还需要转动玻璃基板支撑装置,使玻璃基板与投影幕墙形成一定的夹角,而这种检查方法虽然能够清晰的把条纹显现在投影幕墙上,但并不能准确计算出条纹的位置和间距,严重影响了基板玻璃的检测效率,同时给操作人员也带来了麻烦。

发明内容

本实用新型要解决测量玻璃基板条纹间距的装置测量精度误差大的技术问题,设计了一种测量玻璃基板条纹间距的装置,通过在系统的基板支撑定位机构中增设条纹间距测量机构,是基板支撑定位机构结构更完善,形成一种新的条纹间距测量装置,以解决条纹测量精度误差大的问题。

本实用新型为实现发明目的采用的技术方案是,一种测量玻璃基板条纹间距的装置,结构中包括设置在点光源、及投影幕墙之间的框架式基板支撑定位机构,在基板支撑定位机构的框架主体设置有测量指针、及条纹间隔显示标尺组成的条纹间距测量机构。

本实用新型的有益效果是:通过在系统的基板支撑定位机构中增设条纹间距测量机构,是基板支撑定位机构结构更完善,形成一种新的条纹间距测量装置,以解决条纹测量精度误差大的问题。

下面结合附图对本实用新型进行详细说明。

附图说明

图1代表本实用新型在玻璃基板条纹检测系统中的工作示意图。

图2代表本实用新型的结构示意图。

图3代表图2的左视图。

图4代表图2中A区域的放大示意图。

图5代表图3中B区域的放大示意图。

附图中,1代表点光源,1-1代表光束,2代表基板支撑定位机构,2-1代表固定座,2-2代表底框,2-3代表基板定位槽,2-4代表侧边框,2-5代表玻璃夹具,3代表投影幕墙,4代表滑轨,4-1代表滑块,5代表测量指针,5-1代表上指针,5-2代表下指针,5-3代表过渡板,6代表条纹间隔显示标尺,7代表竖轴,7-1代表定位基座,7-2代表轴承副,7-3代表定位销。

具体实施方式

一种测量玻璃基板条纹间距的装置,结构中包括设置在点光源1、及投影幕墙3之间的框架式基板支撑定位机构2,在基板支撑定位机构2的框架主体设置有测量指针5、及条纹间隔显示标尺6组成的条纹间距测量机构。

上述的条纹间隔显示标尺6水平定位在基板支撑定位机构2的底框2-2上,并在底框2-2上增设水平滑动副,测量指针5借助水平滑动副与条纹间隔显示标尺6形成滑动配合。

上述的水平滑动副中包括开设在底框2-2上的滑轨4、以及设置在滑轨4内的滑块4-1,测量指针5定位在滑块4-1上。

上述的测量指针5是由贴近基板玻璃的上指针5-1、及贴近条纹间隔显示标尺6的下指针5-2借助过渡板5-3连接形成的一体式结构,过渡板5-3与滑块4-1固定连接。

上述的基板支撑定位机构2的结构中还包括设置在框架主体下端的固定座2-1,框架主体与固定座2-1的定位结构是:框架主体的底框2-2底端设置有竖轴7、固定座2-1的台面上设有凸起式定位基座7-1,竖轴7借助轴承副7-2限位在定位基座7-1内、形成旋转机构。

上述的定位基座7-1侧面开设螺旋孔、并在螺旋孔内配套设置定位销7-3。

上述的基板支撑定位机构2中还包括:设置在框架主体的底框2-2上的基板定位槽2-3、并在框架主体的侧边框2-4上配套设置玻璃夹具2-5。

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