[实用新型]芯片推力测试仪

权利要求书

1.一种芯片推力测试仪，其特征在于：包括底架、升降装置、电子推力测量仪、待测量产品安装支座、待测量产品夹具，所述底座左侧上方安装有一待测量产品安装支座，所述待测量产品安装支座上方设有一待测量产品夹具，所述底座右侧上方安装有升降装置，升降装置上方设有一电子推力测量仪。

2.根据权利要求1所述的芯片推力测试仪，其特征在于：所述升降装置包括立柱、垂直升降摇杆、垂直升降固定块、电子推力测量仪安装架、垂直运动直线轴承、高度限位丝杆，所述立柱为4根，均固定在所述底架右侧上方，外侧两根立柱上设有一垂直升降固定块，所述垂直升降固定块上设有一垂直升降摇杆，垂直升降固定块上方设有一电子推力测量仪安装架，所述电子推力测量仪安装架四角均设有垂直运动直线轴承，所述垂直运动直线轴承套在所述立柱上，所述高度限位丝杆穿过电子推力测量仪安装架与垂直升降固定块相连。

3.根据权利要求1所述的芯片推力测试仪，其特征在于：待测量产品安装支座包括U形底座、推力测试摇杆、丝杆、滑杆、U形安装架，所述U形底座安装在所述底架左侧上方，所述U形底座左侧设有一推力测试摇杆，所述U形底座凹槽内设有两根滑杆及一根丝杆，丝杆与推力测试摇杆相连，所述U形底座上方设有一U形安装架，所述U形安装架底部穿过滑杆并可以沿滑杆左右移动，所述U形安装架上方安装有待测量产品夹具。