[实用新型]太阳能多晶硅电池片表面缺陷与沾污检测设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种太阳能硅片检测系统，特别涉及一种多晶硅片表面缺陷检测设备。 

背景技术

随着太阳能发电进入民用领域，太阳能光伏产业以突飞猛进的速度发展。由此对太阳能硅片的质量检测越来越被重视。太阳能硅片的表面缺陷是其中一个重要方面。但是多晶硅片由于其自身缘故，晶粒之间明暗变化非常明显，这严重降低了表面缺陷的信噪比，从而降低了表面缺陷的检测精度。在现有的产品中，基本都是靠后期图像处理的方法将晶粒噪声消除。这不仅延长了图像处理的时间，而且会丢失一些细微的信息。对在线检测及高精度都造成了不良影响。 

实用新型内容

为了弥补以上不足，本实用新型提供了一种多晶硅片表面缺陷检测设备，该多晶硅片表面缺陷检测设备照明系统能够在检测区形成亮度均匀性和角度均匀性非常高的光斑，能消除晶粒噪声干扰，检测精度高。 

本实用新型为了解决其技术问题所采用的技术方案是：一种太阳能多晶硅电池片表面缺陷与沾污检测设备，包括机架、 照明室、传送机构、成像装置和处理器，以实际使用方向为基准，所述照明室固定于机架上，照明室内设有光源，照明室的内壁上设有一层漫反射材料制成的涂层，传送机构能够传送待检测产品到照明室内光源形成的均匀光照区域，照明室上方的顶壁设有与待检测产品位置正对的通光孔，所述成像装置位于通光孔正上方的机架上，成像装置能够将图片信息传信给处理器，传送机构将待检测产品输送到光源形成的均匀光照区域内并与成像装置正对的位置，光源发出的光线经过照明室内壁漫反射后投射在待检测产品上，在待检测产品上形成照度均匀性和角度均匀性非常高的光斑，成像装置通过照明室顶壁的通光孔对待检测产品成像，并将图像信号传输给处理器进行分析比对，得出检测结果，由于待检测产品上的光斑照度均匀性和照明角度均匀性非常高，这就消除了待检测产品上晶粒噪声干扰，提高了检测精度，在本专利中，照度均匀指的是在光斑的不同区域光强一致或接近，照明角度均匀指的是在同一区域，入射角不同的光的强度一致或接近。 

作为本实用新型的进一步改进，所述光源为单色LED、多色LED、卤素灯和荧光灯中的一种，所述光源固定于照明室内侧边缘位置，这样容易在照明室内壁发生漫反射，当然不排除在侧壁上其它位置。 

作为本实用新型的进一步改进，所述光源对应位于待检测产品的四个侧面形成方形结构和环形结构中的一种，条状光源的间隔比待待检测产品尺寸大，用于容置待检测产品。 

作为本实用新型的进一步改进，所述照明室顶壁的通光孔 为圆形孔、方形孔和多边形孔中的一种。 

作为本实用新型的进一步改进，所述成像装置为相机。 

作为本实用新型的进一步改进，所述照明室侧壁上设有能够开启和闭合的门，便于实时查看多晶硅片及设备维修。 

作为本实用新型的进一步改进，所述机架下侧设有高度能够调节的支脚，便于调节光源高度，确保光源高度与待检测产品匹配以及光源与待检测产品的平行度，确保光斑的照度均匀性和照明角度均匀性。 

作为本实用新型的进一步改进，所述照明室内壁的漫反射涂层为高漫反射涂料(比如BaSO4)和贴膜中的一种。 

作为本实用新型的进一步改进，所述照明室内壁2为方筒形和圆筒形的腔体中的一种。 

本文所检测的太阳能多晶硅电池片是指从硅片到成品电池片生产过程中的任何半成品或成品。 

本实用新型的有益技术效果是：本实用新型通过散射腔将光源的光线漫反射，使得投射在多晶硅片上的光斑亮度均匀性和角度均匀性非常高，进而消除了晶粒噪声干扰，提高了多晶硅片表面检测精度。 

附图说明

图1为本实用新型的结构原理示意图； 

图2为本实用新型的立体图。 

具体实施方式