[实用新型]自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统

权利要求书

1.一种自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统，其特征在于：包括外部控制设备、顶层控制电路、中间层控制电路及测试架，所述外部控制设备与所述顶层控制电路相连，所述顶层控制电路连接有至少一个所述中间层控制电路，每个所述中间层控制电路连接有多个所述测试架，每个所述测试架上设置有一末层控制电路，每个所述末层控制电路连接有多个测试板，每个测试板上设置有多个待测晶振节点。

2.如权利要求1所述的自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统，其特征在于：所述顶层控制电路包括一级总控单片机、一级信号驱动电路、第一和第二RS232/TTL电平转换装置、第一八选一通道开关及若干开关K1～K6，所述开关K1～K6均受控于所述一级总控单片机，所述一级总控单片机的信号输入端通过开关K1和第一RS232/TTL电平转换装置连接至所述外部控制设备的RS232信号输出端或通过开关K1连接至所述外部控制设备的TTL信号输出端，通过开关K3和所述第一八选一通道开关连接至所述中间层控制电路的输出端，通过开关K6和第二RS232/TTL电平转换装置连接至一频率测试设备，所述一级总控单片机的信号输出端通过开关K4和第一RS232/TTL电平转换装置连接至所述外部控制设备的RS232信号输入端或通过开关K4连接至所述外部控制设备的TTL信号输入端，通过开关K2和所述一级信号驱动电路连接至所述中间层控制电路的输入端。

3.如权利要求2所述的自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统，其特征在于：所述中间层控制电路包括二级总控单片机、二级信号驱动电路、第三RS232/TTL电平转换装置、第二八选一通道开关及若干开关K7～K10，所述开关K7～K10均受控于所述二级总控单片机，所述二级总控单片机的信号输入端通过开关K7连接至所述顶层控制电路的TTL信号输出端或通过开关K7和第三RS232/TTL电平转换装置连接至所述顶层控制电路的RS232信号输出端，通过开关K9和所述第二八选一通道开关连接至所述末层控制电路的输出端，所述二级总控单片机的信号输出端通过开关K10连接至所述顶层控制电路的TTL信号输入端或通过开关K10和所述第三RS232/TTL电平转换装置连接至所述顶层控制电路的RS232信号输入端，通过开关K8和所述二级信号驱动电路连接至所述末层控制电路的输入端。

4.如权利要求3所述的自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统，其特征在于：所述末层控制电路包括末级总控单片机、末级信号驱动电路、第四RS232/TTL电平转换装置及开关K11和开关K12，所述开关K11和开关K12均受控于所述末级总控单片机，所述末级总控单片机的信号输入端通过开关K11连接至所述中间层控制电路的TTL信号输出端或通过开关K11和第四RS232/TTL电平转换装置连接至所述中间层控制电路的RS232信号输出端，所述末级总控单片机的信号输出端通过开关K12连接至所述中间层控制电路的TTL信号输入端或通过开关K12和所述第四RS232/TTL电平转换装置连接至所述中间层控制电路的RS232信号输入端，通过所述末级信号驱动电路连接至各测试板的输入端。

5.如权利要求4所述的自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统，其特征在于：所述测试板上设置有选择单个待测晶振节点的晶振选择电路，所述晶振选择电路包括地址驱动电路、地址片选电路、与非门、第一和第二三八译码装置以及第三和第四八选一通道开关，所述地址片选电路的输入端与所述末层控制电路的输出端相连，所述地址片选电路的输出端同时与所述地址驱动电路、第一三八译码装置以及第三八选一通道开关相连，所述第一三八译码装置的输出端同时与所述第二三八译码装置和第四八选一通道开关相连，所述第二三八译码装置的输出端连接至所述与非门的一输入端，所述与非门的另一输入端与被测晶体振荡器相连，所述与非门的输出端通过所述第四八选一通道开关与所述第三八选一通道开关相连，所述地址驱动电路的输出端连接至所述第二三八译码装置和第四八选一通道开关。

6.如权利要求5所述的自动测量批量晶体振荡器老化率的测试系统，其特征在于：所述顶层控制电路、中间层控制电路及末层控制电路中各层控制电路均包括一频率选择输出模块，所述频率选择输出模块包括由下级系统提供的8路频率输入、可接收本级总控单片机所输出的地址片选信号且将所选择频率输出给上级系统的第五八选一通道开关，其中，所述顶层控制电路的频率输出的上级系统是所述频率测试设备，所述末层控制电路的频率输入是各测试板的频率输出。