[实用新型]X光源点与成像平面相对位置测量器有效
| 申请号： | 201220174615.2 | 申请日： | 2012-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN202553960U | 公开（公告）日： | 2012-11-28 |
| 发明（设计）人： | 周鹏程;胡方遒;闫士举 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 杨元焱 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 源点 成像 平面 相对 位置 测量器 | ||
1.一种X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于：包括上层测定板和下层测定板，上层测定板和下层测定板平行间隔相连，在下层测定板上设有一个第一钢球和四个第二钢球，在上层测定板上设有多个第三钢球。
2.根据权利要求书1所述的X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于：所述的上层测定板的周边设有三个固定定位爪，三个固定定位爪之间形成用于容置C形臂影像增强器的空间。
3.根据权利要求书1所述的X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于：所述的多个第三钢球采用正交方式排列，并且其中心钢球位于X光源点与成像平面相对位置测量器的中轴线上，多个第三钢球的中心与上层测定板的上表面处于同一平面。
4.根据权利要求书1所述的X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征是，所述的下层测定板包括一个中部圆盘和连接在圆盘周向的三个外伸脚，下层测定板通过三个外伸脚与上层测定板平行间隔相连；所述的四个第二钢球均匀间隔设置在圆盘的边缘，所述的一个第一钢球设置在圆盘的中心并且位于X光源点与成像平面相对位置测量器的中轴线上；所述的第一钢球和四个第二钢球的中心与下层测定板的上表面处于同一平面。
5.根据权利要求书2所述的X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于：所述的三个固定定位爪上分别设有用于将上层测定板与C形臂影像增强器连接的螺钉孔。
6.根据权利要求书1所述的X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于：所述的上层测定板和下层测定板之间通过标准螺钉平行间隔相连，其间隔距离由套在标准螺钉上的标准套筒精确定位。
7.根据权利要求书1所述的X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于：所述的上层测定板和下层测定板用透明的高分子有机玻璃制作。
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