[实用新型]一种新型充电器老化测试架有效

专利信息
申请号: 201220181386.7 申请日: 2012-04-26
公开(公告)号: CN202600066U 公开(公告)日: 2012-12-12
发明(设计)人: 李育涛 申请(专利权)人: 李育涛
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 542800 广西壮族自治*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 充电器 老化 测试
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种测试架,尤其是一种新型充电器老化测试架。

技术背景

随着现代科学技术的发展和进步,很多行业都取得了突飞猛进的发展,特别是电子产品充电器行业,越来越多的产品采用了新的材料或者新的工艺,但是为了达到满意的合格率,几乎所有产品在出厂前都要先经过老化测试,来确定产品性能的稳定性,从而保证产品出厂的合格率,或在产品出现故障需返厂维修时,也需运用老化测试技术对产品进行检测。因此在不缩减老化测试时间的条件下怎样提高工作效率及有效降低生产或维护成本是制造商们面临的重大问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种能有效降低维护成本、减少误测率、增加老化与测试联接的可靠性的新型充电器老化测试架。

为了实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案:

它包括测试联动组件、固定组件、驱动气缸及骨架,所述的测试联动组件包括联接针板及设置于其上的联接探针,所述的固定组件由两侧设有防磨损金属块的产品机架组成,所述的产品机架与驱动气缸相连,所述的驱动气缸设在骨架上。

优选地:所述的产品机架上设有多个产品单元,所述的产品单元外侧设有防损坏保护硅胶座,并与USB电源充电器DC端输出接头相连,所述的DC端输出接头上设有若干DC测试及老化输出铜钉。

优选地:所述的产品机架上还设有测试及老化固定铜套,且在产品机架上呈对称分布。

由于采用了上述方案,产品测试与老化时DC输出端直接采用PCB包硅胶的USB接触,在与产品接触USB的PCB板上直接焊上铜钉做测试与老化的DC输出,同时产品与USB的联接采用水平式插拨(即卧式插拨),AC输入端可用探针直接与产品的AC脚接触,减化机架结构提高机架的抗摔性,简化及省去导线的联接,降低维护成本、减少误测率、增加老化与测试联接的可靠性。

附图说明

图1是本实用新型实施例的结构示意图。

图2是本实用新型实施例的产品机架示意图。

具体实施方式

如图1-2所示,本实用新型实施例的新型充电器老化测试架。它包括测试联动组件、固定组件、驱动气缸及骨架,所述的测试联动组件包括联接针板1及设置于其上的联接探针2,联接针板1不动,联接探针2处于伸出状态,所述的固定组件由两侧设有防磨损金属块3的产品机架4组成,所述的产品机架4与驱动气缸5相连,所述的驱动气缸5设在骨架6上并可以自由滑动,驱动气缸5通气使产品机架4上升,当驱动气缸5把联接探针2压缩到一定程度时,产品的输入与输出通过联接探针2与外部的设备完全接通;所述的产品机架4上设有多个产品单元7,所述的产品单元7外侧设有防损坏保护硅胶座8,并与USB电源充电器DC端输出接头9相连,所述的DC端输出接头9上设有若干DC测试及老化输出铜钉10;所述的产品机架4上还设有测试及老化固定铜套11,且在产品机架4上呈对称分布;产品测试与老化时DC输出端直接采用PCB包硅胶的USB接触,在与产品接触USB的PCB板上直接焊上铜钉做测试与老化的DC输出,同时产品与USB的联接采用水平式插拨(即卧式插拨),AC输入端可用探针直接与产品的AC脚接触,减化机架结构提高机架的抗摔性,简化及省去导线的联接,降低维护成本、减少误测率、增加老化与测试联接的可靠性。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

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