[实用新型]半导体发光二极管器件有效
申请号: | 201220186889.3 | 申请日: | 2012-04-27 |
公开(公告)号: | CN202549915U | 公开(公告)日: | 2012-11-21 |
发明(设计)人: | 张昊翔;金豫浙;封飞飞;万远涛;高耀辉;李东昇;江忠永 | 申请(专利权)人: | 杭州士兰明芯科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/40 | 分类号: | H01L33/40 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆嘉 |
地址: | 310018 浙江省杭州市杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 发光二极管 器件 | ||
1.一种半导体发光二极管器件,包括:
有源层;
P型半导体层和N型半导体层,分别位于所述有源层的两侧;
与所述P型半导体层电性连接的正电极焊接层;
与所述N型半导体层电性连接的负电极焊接层;
其特征在于,所述正电极焊接层和/或负电极焊接层的材料为铝合金材料。
2.根据权利要求1所述的半导体发光二极管器件,其特征在于,所述N型半导体层为N型掺杂的III-V族化合物半导体层,所述P型半导体层为P型掺杂的III-V族化合物半导体层。
3.根据权利要求1所述的半导体发光二极管器件,其特征在于,所述正电极焊接层和负电极焊接层位于所述半导体发光二极管器件的同侧或者异侧。
4.根据权利要求1所述的半导体发光二极管器件,其特征在于,还包括:位于所述P型半导体层上并与其接触的扩展电极层,所述正电极焊接层位于所述扩展电极层上并与其接触。
5.根据权利要求1所述的半导体发光二极管器件,其特征在于,还包括:位于所述P型半导体层上并与其接触的扩展电极层,位于所述扩展电极层上并与其接触的正电极接触层,所述正电极焊接层位于所述正电极接触层上并与其接触。
6.根据权利要求1所述的半导体发光二极管器件,其特征在于,还包括:位于所述P型半导体层上并与其接触的扩展电极层,位于所述扩展电极层上并与其接触的正电极接触层,位于所述正电极接触层上并与其接触的正电极过渡层,所述正电极焊接层位于所述正电极过渡层上并与其接触。
7.根据权利要求4至6中任一项所述的半导体发光二极管器件,其特征在于,还包括:位于所述N型半导体层上并与其接触的负电极接触层,所述负电极焊接层位于所述负电极接触层上并与其接触。
8.根据权利要求4至6中任一项所述的半导体发光二极管器件,其特征在于,还包括:位于所述N型半导体层上并与其接触的负电极接触层,位于所述负电极接触层上并与其接触的负电极过渡层,所述负电极焊接层位于所述负电极过渡层上并与其接触。
9.根据权利要求1所述的半导体发光二极管器件,其特征在于,所述有源层的平面面积大于100平方毫英寸。
10.根据权利要求1所述的半导体发光二极管器件,其特征在于,所述有源层的平面面积大于300平方毫英寸。
11.根据权利要求1所述的半导体发光二极管器件,其特征在于,所述有源层的平面面积选自576平方毫英寸、800平方毫英寸、1444平方毫英寸、1600平方毫英寸、2025平方毫英寸、3600平方毫英寸。
12.根据权利要求1所述的半导体发光二极管器件,其特征在于,所述半导体发光二极管器件的工作电流大于20mA小于1A。
13.根据权利要求1所述的半导体发光二极管器件,其特征在于,所述半导体发光二极管器件的工作电流为350mA、500mA、500mA或1A的正向工作电流。
14.根据权利要求1所述的半导体发光二极管器件,其特征在于,所述正电极焊接层和负电极焊接层的厚度为0.1~10μm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州士兰明芯科技有限公司,未经杭州士兰明芯科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220186889.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。