[实用新型]一种使PLC耦合对准平行装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及光通信产品领域，尤其涉及一种PLC耦合对准平行装置。 

背景技术

在光通信产品PLC（Planar Lightwave Circuit Splitter，平面光波导分路器）的生产过程中，最为关键的工序就为耦合封装,先把输入FA、芯片、输出FA(Fiber Array光纤阵列)放置在六维调整架上，分别进行6个自由度{3个平动（X、Y、Z）和3个转动（α、β、g）}的精确地对准，定位出最佳光功率耦合点以保证光功率输出的最大化和均匀化，然后用特种UV胶水进行粘接固化，使三者成为一体;在耦合封装操作过程中，调整并确保如下3个面的平行度是非常关键，也是耦合操作中最基本的要求，对产品的质量及后期可靠性起到了决定性的作用。 

传统的方法为:参考图1，在对准区有2个100~300倍连续变倍的电子显微镜，电子显微镜1安装在夹具的正上方，从上向下观察顶面的2个侧边线，如果侧边线平行说明芯片侧面和FA侧面是平行；电子显微镜2安装对准区的正后侧，从后面向前观测侧面的2个侧边线，如果侧边线平行说明芯片顶面和FA顶面平行；在功率耦合过程中，光纤阵列上的所有光纤会连接到一台多通道光功率计，如果所有光纤输出的光功率相同，说明接触面也是平行没有旋转。 

但实际生产过程中，存在以下问题： 

1.FA和芯片等材质都是比较脆的光学玻璃，部分FA或芯片存有轻微的破损或崩口等状况，导致侧边线不是一条十分完整并规则的直线，此时无法十分直观地确认两侧边线的平行状况。

2.FA和芯片的接触面是个斜面（角度为8°），所以芯片的上下两顶面的侧边线在电子显微镜上就形成2条不同的直线，FA也存在类似的状况，导致几条边的图像互相干涉模糊不清，极大影响对准平行的判定结果。 

3.FA和芯片的侧边线都要在电子显微镜的焦距内才能得到清晰的图像；但实际FA及芯片的厚度或宽度都不尽相同，导致需要频繁地调整六位调整架，以确保需要观测的两个面同时处在一个平面上，才能都得到清晰的图像以利于平行的调整和判定；此操作需要大量的工时。 

4.放大倍率不同，焦距也是不同，一般是在小倍率下进行粗平行调整，然后在切换成大倍率进行精细平行调整，导致需要花大量的时间调整电子显微镜的焦距。 

5.接触面的旋转是要靠功率计读数作为参考进行调整，芯片上每根波导的质量，FA上的每根光纤质量，FA上每根光纤高度及灰尘等都会影响这个读数, 即使在填充上UV胶水前，功率已经调均衡了，但填充上UV胶水，这些功率又不尽相同,需要花大量时间重新调整，导致生产效率很慢。 

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种PLC耦合对准平行装置。 

为实现以上目的，本实用新型采用的技术方案：一种使PLC耦合对准平行装置，它包括电子显微镜Ⅰ（1）、电脑终端（3）、红外激光器（4）、电子显微镜Ⅱ（5）、观测天花板（6）、夹具（11）和观测地板（15），其特征在于：电子显微镜Ⅰ（1）位于夹具（11）上部，电子显微镜Ⅱ（5）位于夹具（11）一侧面，电子显微镜Ⅰ（1）与电子显微镜Ⅱ（5）的轴线呈空间垂直分布；电子显微镜Ⅰ（1）连接电脑终端（3），电子显微镜Ⅱ（5）连接电脑终端（3）；夹具（11）的一侧面安装有红外激光器（4）；夹具（11）上方设置有观测天花板（6），夹具（11）的一侧面设置有观测地板（15）。 

所述的红外激光器（4）采用点光源式激光器，此红外激光器（4）被固定在一个可以滑动的导轨上。 

本实用新型有益效果： 

1.精度很高，芯片和FA轻微不平行，就会被反射光放大几百倍并显示在观测天花板或观测地板15上。

2.操作简单,十分直观,操作员只要观测天花板和观测地板上的光点，然后适当调整，使两个光点重合就说明已经平行，操作时间十分短(约3秒左右)，效率很高。 

3.不仅能检测顶面和侧面的平行情况，而且也检测了接触面平行旋转状况，如果接触面存在旋转或顶面不平行，天花板上的2（光点Ⅰ7、光点Ⅱ8）反射光点就无法重合。 

附图说明

图1为传统的PLC耦合对准平行装置示意图。 

图2为本实用新型示意图。 

图3为侧面产生的反射光,传播到观测地板15上的示意图。 

图4为激光入射点示意图。