[实用新型]基于AlN陶瓷衬底的GaN外延片结构有效

专利信息
申请号: 201220198354.8 申请日: 2012-05-04
公开(公告)号: CN202585516U 公开(公告)日: 2012-12-05
发明(设计)人: 郭文平;王东盛;钟玉煌 申请(专利权)人: 江苏新广联科技股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所 32104 代理人: 曹祖良
地址: 214111 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 aln 陶瓷 衬底 gan 外延 结构
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种GaN外延片结构,尤其是一种基于AlN陶瓷衬底的GaN外延片结构,属于外延片的技术领域。

背景技术

用于GaN生长最普遍的衬底是蓝宝石衬底;其优点是化学稳定性好,不吸收可见光、价格适中、制造技术相对成熟。使用蓝宝石作为衬底也存在一些问题,例如晶格失配和热应力失配,导热性能不好。尤其是蓝宝石的导热性能不好(在100℃约为25W/(m·K)),在使用LED器件时,会传导出大量的热量;特别是对面积较大的大功率器件,导热性能是一个非常重要的考虑因素。通常LED采用蓝宝石作为衬底,而LED的核心部件如芯片、荧光粉等均对温度敏感,如散热不良,将导致LED芯片的结温升高,从而直接影响LED器件的性能,如出射光发生红移、发光效率降低、荧光粉加速老化以及芯片寿命缩短甚至失效等。

而与导热性差的蓝宝石衬底相比,AlN陶瓷衬底却具有高的热导率(高于180W/m*K),同时又具备适宜的热膨胀系数。而且AlN陶瓷衬底具有良好的电气绝缘性能和电磁相容性,机械性能优良,并耐腐蚀、物理化学性能稳定,晶体常数GaN晶体接近,可有效减少界面热应力。

AlN衬底在GaN生长领域没有被应用的原因主要有两条:1、AlN衬底的制作还处于实验室研发阶段,制作此类衬底成本高昂。直到2008年美国纽约的Crystal IS公司才提供了世界上第一片2英寸的AlN单晶衬底,不过表面仅有50%的单晶使用面积。目前国内仅有少量研究单位在实验室制备过AlN陶瓷衬底。2、使用AlN衬底生长GaN单晶材料在技术上实现起来比较困难。

发明内容

本实用新型的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种基于AlN陶瓷衬底的GaN外延片结构,其结构简单紧凑,提高外延片的导热性能及发热效率,机械性能优良,耐腐蚀,延长通过外延片制备LED器件的使用寿命,稳定可靠。

按照本实用新型提供的技术方案,所述基于AlN陶瓷衬底的GaN外延片结构,包括AlN陶瓷衬底及生长于AlN陶瓷衬底上的缓冲层,所述缓冲层上生长有GaN LED结构层。

所述AlN陶瓷衬底的厚度为50mm~300mm,AlN陶瓷衬底的晶相为<001>、<111>、<110>的单晶体或多晶体。

所述AlN陶瓷衬底为多晶体时,AlN陶瓷衬底与缓冲层间设置有晶相为<001>的单晶取向层或类单晶取向层。

所述缓冲层的厚度为10nm~100nm;缓冲层为GaN层、AlN缓冲层、AlxGa1-xN层、InxGa1-xN层或AlxInyGa1-x-yN层;其中,x为0.01~0.99,y为0.01~0.99。

所述GaN LED结构层包括生长于缓冲层上的非掺杂GaN层、所述非掺杂GaN层上生长有N型氮化镓层,所述N型氮化镓层上生长有多量子阱层,所述多量子阱层上生长有P型铝镓氮层,所述P型铝镓氮层上生长有P型氮化镓层。

所述非掺杂GaN层与N型氮化镓层间设置DBR层,所述DBR层生长于非掺杂GaN层上。

所述P型氮化镓层上生长有粗化层。

所述DBR层为AlmGa1-mN、GaN的周期结构,所述周期是1~100,m范围是0.01~0.99。

本实用新型的优点:采用AlN陶瓷衬底,并在AlN陶瓷衬底上设置缓冲层,通过生长缓冲层后在AlN陶瓷衬底上通过MOCVD常规工艺制备得到GaN LED结构层,工艺步骤简单方便,能大大提高GaN LED晶体质量,同时可以在GaNLED结构层内设置DBR层及粗化层,以提高通过GaN LED结构层得到LED工作时的出光效率,通过AlN陶瓷衬底能提高导热性能,结构简单紧凑,工艺简单,机械性能优良,耐腐蚀,延长通过外延片制备LED器件的使用寿命,稳定可靠。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为本实用新型在非掺杂GaN层与N型氮化镓层间设置DBR层的结构示意图。

图3为在P型氮化镓层上生长粗化层的结构示意图。

附图标记说明:11-多量子阱层、12-DBR层、101-AlN陶瓷衬底、102-缓冲层、103-非掺杂GaN层、104-N型氮化镓层、105-P型铝镓氮层、106-P型氮化镓层及107-粗化层。

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