[实用新型]一种电子元器件电性测盘有效
| 申请号： | 201220208847.5 | 申请日： | 2012-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN202614788U | 公开（公告）日： | 2012-12-19 |
| 发明（设计）人： | 陈健业;曾艳军;田志飞 | 申请（专利权）人： | 深圳顺络电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 518110 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 电性测盘 | ||
【权利要求书】：
1.一种电子元器件电性测盘，其特征是：所述电子元器件电性测盘的表面开有槽道，所述槽道内开有通孔。
2.如权利要求1所述的电子元器件电性测盘，其特征是：所述槽道是弧形槽。
3.如权利要求1所述的电子元器件电性测盘，其特征是：所述槽道是与所述电子元器件电性测盘同圆心的环形槽。
4.如权利要求3所述的电子元器件电性测盘，其特征是：所述通孔是方形通孔，且所述方形通孔的侧壁与所述环形槽的离圆心较远的内侧壁相切。
5.如权利要求1所述的电子元器件电性测盘，其特征是：所述槽道的厚度小于所测电子元器件的长度。
6.如权利要求1所述的电子元器件电性测盘，其特征是：所述槽道设置在电子元器件电性测盘的边缘。
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