[实用新型]下颌美学设计器有效

专利信息
申请号: 201220220515.9 申请日: 2012-05-17
公开(公告)号: CN202699282U 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 张艳红;杨永成 申请(专利权)人: 海南瑞韩医学美容中心(普通合伙)
主分类号: A61B19/00 分类号: A61B19/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 570105 海南省海口市*** 国省代码: 海南;66
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摘要:
搜索关键词: 下颌 美学 设计
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种整形外科手术工具,特别涉及一种用于下颌手术的美学设计器。

背景技术

由于目前整形外科领域对双侧下颌骨截骨量的多少只能根据每个医生的临床经验来决定,往往双侧下颌骨的截骨量或者存留的骨量不对称,不能达到完全一致,以至于术后美学效果不稳定。

实用新型内容

本实用新型提供了一种下颌美学设计器,克服目前临床外科领域中存在的双侧下颌骨截骨量的不对称问题,在手术中准确地解决下颌骨截骨量的多少。

本实用新型为解决上述技术问题所采用的技术方案是:

一种下颌美学设计器,包括基尺,其特征在于所述基尺一侧设置有尺头,尺头向下弯折,基尺的下侧边设置有滑动头,滑动头具有向下的弯折部,所述滑动头可在基尺的下侧面自由滑动,滑动头上安装有固定卡,固定卡可将滑动头固定在基尺上。

所述基尺的另一侧设置有尺托。

所述基尺上设置有刻度。

所述尺头的端头设置有标记笔。

发明具有如下的技术效果:对于双侧下颌骨性肥大的患者来说,患者会要求下颌骨截骨能达到面部美观的目的,但以往技术在下颌骨截骨量的多少问题上存在盲目性,手术往往达不到手术后双侧下颌角的完全对称。本实用新型所述的测量器能够非常准确的标定截骨的位置,以使得截骨手术后双侧保留的下颌角完全一致,以达到患者的面部美学的对称。

附图说明

以下将结合附图对本发明的具体实施例作进一步详细的描述,其中:

图1是本实用新型实施例1的结构示意图;

具体实施方式

实施例1

一种下颌美学设计器,包括基尺1,其特征在于所述基尺1一侧设置有尺头2,尺头2向下弯折,基尺1的下侧边设置有滑动头5,滑动头5具有向下的弯折部3,所述滑动头5可在基尺1的下侧面自由滑动,滑动头5上安装有固定卡4,固定卡4可将滑动头5固定在基尺1上。所述基尺1的另一侧设置有尺托6。所述基尺1上设置有刻度7。所述尺头2的端头设置有标记笔8。

本实用新型的滑动头5可以在基尺1上滑动,而固定卡可以将滑动头5固定在基尺1上的任意部位。基尺1上有刻度7,基尺1顶端一侧的尺头2,目的是在测量时能够钩住下颌骨;滑动头5顶端延伸,与尺头2平行,以便固定在下颌骨升支前缘帮助测量下颌骨升支前缘到下颌骨之间的距离,另外在测量尺头2的端部还带有一个供划线用的标记笔8,以便能够标出下颌骨到下颌升支前缘的准确距离,使截骨准确,双侧对称。

本领域技术人员将会认识到,在不偏离本发明的保护范围的前提下,可以对上述实施方式进行各种修改、变化和组合,并且认为这种修改、变化和组合是在独创性思想的范围之内的。

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