[实用新型]一种电容测量仪器的辅助设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及平板显示技术领域，尤其涉及一种电容测量仪器的辅助设备。

背景技术

近年来，平板显示技术迅速发展，尤其是触摸屏（Touch Panel）液晶显示器已经逐渐成为平板显示器的主流。电容式触摸屏由于其触摸过程中无需对触摸屏施加压力、触摸点定位的精度较高，且触摸点定位无需校准等优点，备受人们青睐。

电容触摸屏采用铟锡氧化物（ITO）层作为触摸感应电路，当手指接触触摸屏表面时，手指与ITO金属氧化物层之间会形成一个耦合电容，ITO层上的一部分电荷就会转移到人体。ITO层为了恢复电荷的损失，从触摸屏的四角补充进来相应量的电荷，四角各个方向补充的电荷量和触摸点的距离成比例，由此推算出触摸点的位置。具体地，触摸屏的触摸感应电路中，驱动线（Driving Line）和感应线(Sensing Line)之间会产生耦合电容或/交叉电容，当手指接触触摸屏时，手指会引起耦合电容或/交叉电容值的变化，与该触摸屏配合使用的处理器根据该耦合电容或/交叉电容的变化量确定手指触摸点的位置。

根据触摸屏应用领域的不同以及功能需求的不同，需要设计出不同结构的触摸感应电路。因此，对驱动线和/或感应线之间产生的耦合电容或/交叉电容值的测量至关重要。

现有技术，当需要测量某一条感应线和某一条驱动线之间的电容值时，将电容测量设备（Inductance Capacitance Resistance，LCR）的测量线（测量线的探针）直接接触屏上引线焊接（PAD）区域与所述感应线和驱动线相对应的引线。所述需要测量电容的感应线和驱动线对应的引线为探测线，其余感应线和驱动线对应的引线为非探测线。但是，这种驱动线和感应线之间的电容测量方式，在探测某一探测线的过程中，非探测线并非处于接地状态。所以，LCR对探测线的探测会受相邻感应线或/和驱动线的影响，使得电容测量数值不准确。正确的电容测量方法需要将非测量线接地。目前提出的电容测量方法需要对非探测线焊接飞线或者涂覆银浆搭线接地，但这两种测量方法在实际操作过程中只能对特定的测量线进行单次测量，对于需要多次测量不同的探测线时，操作起来极其不方便。

综上所述，现有技术在多次测量触摸屏触摸感应电路中的驱动线和感应线之间的电容时操作极不方便，测试效率较低。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种电容测量仪器的辅助设备，用以辅助电容测量仪器测量探测线之间的电容，提高电容测量值的准确性以及测试效率。

本实用新型实施例提供的电容测量仪器的辅助设备包括：

底座、位于所述底座上方与该底座相连的轴杆、至少一根搭于所述轴杆上的探针，每一根探针与参考接地点相连，并在施加于尾部的向下压力作用下绕所述轴杆转动，使其头部从与待测物的非探测线的接触位置抬起。

本实用新型实施例，提供一种电容测量仪器的辅助设备，包括：底座、位于所述底座上方与该底座相连的轴杆、至少一根搭于所述轴杆上的探针，每一根探针与参考接地点相连，并在施加于尾部的向下压力作用下绕所述轴杆转动，使其头部从与待测物的非探测线的接触位置抬起。自然状态下，非探测线与探针接触，探针与参考接地点相连，使得与探针相接触的非探测线接地，提高电容测量值的准确性。当需要探测其他探测线之间的电容时，只需将该探测线对应的探针与探测线分离，即在该探针的尾部施加向下的压力，使其头部从与待测物的探测线的接触位置抬起。并将保证其他所有非探测线与探针接触。提高探测线之间电容的测试效率。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的测试探测线之间的电容的原理示意图；

图2为本实用新型实施例提供的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的具有探针按键的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构示意图；

图5为本实用新型实施例提供的具有弹簧的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构示意图；

图6为本实用新型实施例提供的具有卡接件的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构示意图；

图7为本实用新型实施例提供的具有保护罩的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构示意图；

图8为本实用新型实施例提供的具有固定保护罩的旋钮的电容测量仪器的辅助设备和待测物的结构示意图；

图9为本实用新型实施例提供的具有调节旋钮的探针结构示意图；