[实用新型]三维形貌痕迹比对测量仪的标定夹具有效

专利信息
申请号: 201220240033.X 申请日: 2012-05-26
公开(公告)号: CN202599394U 公开(公告)日: 2012-12-12
发明(设计)人: 严继华;路振涛;孟凡忠;梁玉清 申请(专利权)人: 安徽国盾三维高科技有限公司
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 代理人: 杨晋弘
地址: 233000 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 三维 形貌 痕迹 测量仪 标定 夹具
【权利要求书】:

1.一种三维形貌痕迹比对测量仪的标定夹具,其特征在于包括:

a、底盘(1),底盘(1)上固定有滑槽(8),滑槽(8)中间设有上斜面(8a)、上斜面两侧设有侧板(8b);

b、滑槽(8)的上斜面上设置一个滑块(4),滑块(4)下面设置的下斜面(4b)与滑槽(8)的上斜面(8a)滑动配合,滑块(4)中部设有螺孔(4a);

c、滑槽(8)的前后侧分别设有前挡板(3)、后挡板(7),滑槽(8)的左右侧分别设有左护板(5)、右护板(9),前挡板(3)、后挡板(7)与左护板(5)、右护板(9)互相固定联接构成一个框架,框架顶部连接一个底座(6);

d、前挡板(3)上连接一个分厘卡(2),分厘卡(2)设有一段螺杆(2a)与滑块(4)中的螺纹(4a)联接配合。

2.根据权利要求1所述的三维形貌痕迹比对测量仪的标定夹具,其特征在于:所述的左护板(5)、右护板(9)与滑槽(8)两侧的侧板(8b)呈导向滑动配合。

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