[实用新型]背光模组测试治具有效

专利信息
申请号: 201220240623.2 申请日: 2012-05-25
公开(公告)号: CN202583640U 公开(公告)日: 2012-12-05
发明(设计)人: 黄冰;吴科进 申请(专利权)人: 深圳TCL新技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01M11/02
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 518052 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 背光 模组 测试
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及测试技术领域,特别涉及一种背光模组测试治具。

背景技术

目前液晶面板的尺寸各不相同,在生产液晶显示器时需对液晶面板的光学性能进行测试以排除不良产品,针对不同尺寸的液晶面板需设计相应尺寸的测试治具,且液晶面板的尺寸种类多,液晶屏生产商生产的液晶屏尺寸规格相差范围较大,所以现有技术中对液晶面板的测试存在如下不足:由于需要针对不同尺寸的液晶面板必须设计相应尺寸背光模组的测试治具,因此设计成本比较高,且需要较大的存放空间来放置不同尺寸背光模组的测试治具。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种可测试不同尺寸的液晶面板光学性能的背光模组测试治具,旨在降低成本。

本实用新型提供一种背光模组测试治具,包括底座、可调节的固定于所述底座上的套筒和第一转接件,及固定背光模组的承载组件;所述第一转接件的两端分别可伸缩的连接两所述套筒,且所述套筒和所述第一转接件依次连接围成第一封闭框;所述承载组件可调节的固定在所述第一封闭框的内侧表面,其中,所述承载组件的调节方向与所述第一转接件的伸缩方向垂直。

优选地,所述背光模组测试治具还包括第二转接件,所述第二转接件的两端分别可伸缩的连接两所述承载组件,且所述承载组件和所述第二转接件依次连接围成第二封闭框,所述第二转接件锁附于所述第一转接件上。

优选地,所述底座上设置有第一条状孔,所述套筒上设置有与所述第一条状孔适配的第一螺纹孔,所述第一转接件上设置有与所述第一条状孔适配的第二螺纹孔,螺丝穿过所述第一条状孔并与所述第一螺纹孔配合将所述套筒固定于所述底座上,螺丝穿过所述第一条状孔并与所述第二螺纹孔配合将所述第一转接件固定于所述底座上。

优选地,所述第一转接件通过螺丝锁附于所述套筒上,所述第二转接件通过螺丝锁附于所述承载组件上。

优选地,所述套筒包括第一直条及与所述第一直条垂直连接的第二直条,所述第一直条和第二直条均为中空结构。

优选地,所述底座的上表面在长度方向和宽度方向上分别刻有标度。

优选地,所述背光模组测试治具为侧入式背光模组测试治具,所述承载组件包括固定连接的侧入式第一承载台和侧入式第二承载台,所述侧入式第一承载台包括供所述第二转接件在其中做伸缩运动的侧入式中空腔体;所述背光模组的反射片、导光板和膜片依次叠放在所述底座上,所述背光模组的灯条固定设置在所述套筒的内侧表面且位于所述侧入式第一承载台的下方,所述背光模组的液晶面板被卡持在所述侧入式第一承载台和所述侧入式第二承载台之间,所述背光模组的前盖板固定设置在所述侧入式第二承载台上。

优选地,所述套筒上设置有第二条状孔,所述侧入式第一承载台上设置有与所述第二条状孔对应的第一锁附孔,螺丝穿过所述第二条状孔和所述第一锁附孔与螺栓配合将所述侧入式第一承载台固定在所述套筒上。

优选地,所述背光模组测试治具为直下式背光模组测试治具,所述承载组件包括固定连接的直下式第一承载台、直下式第二承载台和直下式第三承载台,所述直下式第一承载台包括供所述第二转接件在其中做伸缩运动的直下式中空腔体,所述背光模组的反射片和灯条固定设置在所述底座上,所述背光模组的扩散板和膜片固定设置在所述直下式第一承载台上,所述背光模组的液晶面板被卡持在所述直下式第二承载台和所述直下式第三承载台之间,所述背光模组的前盖板固定设置在所述直下式第三承载台上。

优选地,所述套筒上设置有第二条状孔,所述直下式第一承载台上设置有与所述第二条状孔对应的第二锁附孔,螺丝穿过所述第二条状孔和所述第二锁附孔与螺栓配合将所述直下式第一承载台固定在所述套筒上。

本实用新型通过设置可在套筒中做伸缩运动的第一转接件,在测试不同长宽尺寸的液晶面板时,可通过调节第一转接件伸出套筒的长度来适应不同长宽尺寸的液晶面板,相对现有技术中根据不同长宽尺寸的液晶面板设计相应长宽尺寸的测试治具,本实用新型背光模组测试治具具有兼容不同长宽尺寸液晶面板的优点,在降低设计成本的同时还节省了放置背光模组测试治具的空间。同时通过将承载组件可调节的固定在第一封闭框的内侧表面,即通过调节承载组件相对底座的高度来分别实现对直下式背光模组和侧入式背光模组的测试。

附图说明

图1为本实用新型背光模组测试治具的俯视图;

图2为本实用新型背光模组测试治具为侧入式背光模组测试治具时的局部结构示意图;

图3为本实用新型背光模组测试治具为直下式背光模组测试治具时的局部结构示意图。

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