[实用新型]光束斯托克斯参量测量装置有效

专利信息
申请号: 201220244241.7 申请日: 2012-05-28
公开(公告)号: CN202648799U 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 汤飞龙;李中梁;王向朝;步扬;曹绍谦 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J4/00 分类号: G01J4/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 光束 斯托 参量 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种光束斯托克斯参量测量装置,其特征在于该装置的构成包括沿系统光轴依次设置的:分光棱镜组(2)、相位延迟器阵列(3)、检偏器(4)和光电探测器阵列(5),所述的光电探测器阵列(5)的输出端接信号处理系统(6),所述的光电探测器阵列(5)各单元与所述的相位延迟器阵列(3)各单元一一对应,并根据所述待测光的偏振方向,调整所述的检偏器(4)的透光轴方向与所述待测光束的偏振方向平行及垂直后,分别再进行待测光束的偏振参量测量。

2.根据权利要求1所述的光束斯托克斯参量测量装置,其特征在于:所述的分光棱镜组(2)为分光比已知的分光棱镜的组合,将一束入射光形成多个出射子光束。

3.根据权利要求1所述的光束斯托克斯参量测量装置,其特征在于:所述相位延迟器阵列(3)是由四个相同的相位延迟器在同一平面内按四象限排列组成,分别为第一相位延迟器(301)、第二相位延迟器(302)、第三相位延迟器(303)、第四相位延迟器(304);所述的第一相位延迟器(301)、第二相位延迟器(302)、第三相位延迟器(303)、第四相位延迟器(304)的快轴方向与所述的检偏器(4)的透光轴方向夹角θi(i=1,2,3,4)分别为-45°、0°、30°和60°,所述相位延迟器产生90°相位延迟量。

4.根据权利要求1所述的光束斯托克斯参量测量装置,其特征在于:所述的光电探测器阵列(5)为多个光电探测器形成的组合体,或为二维面阵探测器,由相同的在同一平面内按四象限排列的第一光电探测器(501)、第二光电探测器(502)、第三光电探测器(503)、第四光电探测器(504)组成,并与所述的相位延迟器阵列(3)的第一相位延迟器(301)、第二相位延迟器(302)、第三相位延迟器(303)、第四相位延迟器(304)一一对应。

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