[实用新型]一种测试适配器

说明书

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试系统，特别是指一种基于测试系统V93000的测试适配器。

背景技术

V93000为大规模SOC(System on Chip)集成电路测试系统，测试系统提供大规模的多点测试，可测试用于各种终端产品（从数字电视到无线通信设备）的片上系统(SOC)器件和系统级封装（SiP）器件。V93000测试速度快、测试精度高、通道数多，对于集成电路芯片XC95144XL的测试具有重要意义，但集成电路芯片XC95144XL无法直接在测试系统V93000上完成配置和测试，需要设计V93000专用适配器完成集成电路芯片XC95144XL的配置和测试，目前还没有基于V93000测试系统的XC95144XL测试适配器。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种基于测试系统V93000的测试适配器，提高被测器件XC95144XL的测试精度和测试效率。

基于上述目的本实用新型提供的一种基于测试系统V93000的测试适配器，包括：

配置电源、JTAG接口和2个V93000连接器；

代码下载状态下，所述配置电源向被测器件XC95144XL和所述JTAG接口供电，所述JTAG接口的数据输入线与被测器件XC95144XL的数据输入端连接，所述JTAG接口的数据输出线与被测器件XC95144XL的数据输出端连接，所述JTAG接口的时钟线与被测器件XC95144XL的时钟端连接，所述JTAG接口的模式选择线与被测器件XC95144XL的模式选择端连接；EDA代码通过所述JTAG接口下载至被测器件XC95144XL中，完成逻辑功能配置；

测试状态下，测试系统V93000通过所述其中一个V93000连接器向被测器件XC95144XL提供电压；测试系统通过所述另一个V93000连接器的各数字通道与被测器件XC95144XL的信号管脚一一对应连接。

进一步地，所述JTAG接口的数据输出线与被测器件XC95144XL的数据输出端连接，与所述JTAG接口的数据输入线与被测器件XC95144XL的数据输入端连接构成JTAG链。

进一步地，所述EDA代码通过所述JTAG链下载至被测器件XC95144XL中。

从上面所述可以看出，本实用新型提供的测试适配器，通过将代码下载至被测器件XC95144XL中，实现被测器件XC95144XL的测试前配置；在测试系统上对被测器件XC95144XL进行测试，实现被测器件XC95144XL的功能测试覆盖率更大、效率更高，提高测试精度和测试效率。

附图说明

图1为本实用新型实施例的一种测试适配器的电路示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。

图1为本实用新型实施例的一种测试适配器的电路示意图。如图1所示，测试适配器包括：配置电源、JTAG接口和2个V93000连接器，其中，配置电源向被测器件和JTAG接口供电。配置电源外接5V/3A的直流电源，通过电压转换模块生成3路电源电压，分别是：为被测器件XC95144XL提供核电压VCCINT和IO端口电压VCCIO、为JTAG接口提供接口电压VCCJ。

代码下载状态下，JTAG接口的数据输入线TDI与被测器件XC95144XL的数据输入端TDI连接，JTAG接口的数据输出线TDO与被测器件XC95144XL的数据输出端TDO连接，JTAG接口的时钟线TCK与被测器件XC95144XL的时钟端TCK连接，JTAG接口的模式选择线TMS与被测器件XC95144XL的模式选择端TMS连接；EDA代码通过JTAG接口下载至被测器件XC95144XL，完成逻辑功能配置。JTAG接口的数据输出线TDO与被测器件XC95144XL的数据输出端TDO连接，与JTAG接口的数据输入线TDI与被测器件XC95144XL的数据输入端TDI连接构成JTAG链，EDA代码通过JTAG链下载至被测器件XC95144XLXC95144XL中。