[实用新型]齿型盘结构及电子元件的检测机装置有效
| 申请号： | 201220255584.3 | 申请日： | 2012-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN202599434U | 公开（公告）日： | 2012-12-12 |
| 发明（设计）人： | 潘廷福 | 申请（专利权）人： | 耀裕精工股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D11/00 | 分类号： | G01D11/00;G01D21/00 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 中国台湾台北*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 盘结 电子元件 检测 装置 | ||
1.一种齿型盘结构，其用于电子元件的检测机，该齿型盘设置于该检测机装置的一本体上，其特征在于，该齿型盘包括：
一转盘，可旋转的设置于该本体上；及
至少一置料部，环状形成于该转盘的上方侧，又该置料部具有至少一置料区，该置料区为一凹槽且该凹槽的水平方向形成有一组相对应的一第一开口及一第二开口。
2.根据权利要求1所述的齿型盘结构，其特征在于，其中该转盘与该置料部相互结合。
3.根据权利要求1所述的齿型盘结构，其特征在于，其中该转盘上形成有至少一该置料部且该置料部上具有多个置料区，又该多个置料区是等间距排列。
4.根据权利要求1所述的齿型盘结构，其特征在于，其中该齿型盘位于该置料区的底部进一步包括有一中空柱。
5.一种电子元件的检测机装置，其特征在于，其至少包括：
一本体；
一齿型盘，其包括：
一转盘，可旋转的设置于该本体上；及
至少一置料部，环状形成于该转盘的上方侧，又该置料部具有至少一置料区，该置料区为一凹槽且该凹槽的水平方向形成有一组相对应的一第一开口及一第二开口；
至少一检测单元，设置于该本体上且位于该置料部的至少一外侧，以对该置料区内的至少一电子元件进行水平检测；
至少一进料单元，其设置于该本体上，且该进料单元位于该置料部的一侧；
至少一出料单元，其设置于该本体上，且该出料单元位于该置料部的一侧。
6.根据权利要求5所述的电子元件的检测机装置，其特征在于该转盘与该置料部相互结合。
7.根据权利要求5所述的电子元件的检测机装置，其特征在于该转盘上形成有至少一该置料部且该置料部上具有多个置料区，又该些置料区等间距排列。
8.根据权利要求5所述的电子元件的检测机装置，其特征在于该齿型盘位于该置料区的底部进一步包括有一中空柱。
9.根据权利要求5所述的电子元件的检测机装置，其特征在于，其中该进料单元进一步具有一水平进料通道，该水平进料通道可与该置料部相连通。
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