[实用新型]高频信号测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种频谱测试装置，更具体地说，涉及一种高频信号测试装置。

背景技术

在进行射频电路板测试时，往往需要测试仪器器件的输入输出信号和电压等信息，以判断该器件或模块是否正常工作。对于直流信号，可用万用表，频率较低的的可用示波器，但对高频信号或需要频谱测试时就比较麻烦，因为很多频谱仪是不能有直流输出，而在电路板上往往射频信号于直流信号同时存在，如果直接输入频谱仪或导致仪器损坏。虽然有此类探针，但大多价格昂贵。而针对电路板这种开发式信号，此类探针也是无法准确测量，而不同的探针也有其使用的局限性。

实用新型内容

本实用新型的目的旨在提供一种高频信号测试装置，来解决现有技术中存在的各种不足。

根据本实用新型，提供一种高频信号测试装置，包括频谱仪、隔直器、电缆。隔直器的一端连接至频谱仪的输入口，另一端连接电缆。

根据本实用新型的一实施例，电缆为柔性同轴电缆。

根据本实用新型的一实施例，同轴电缆的外层包覆有屏蔽层。

根据本实用新型的一实施例，电缆的顶端设置有探针。

根据本实用新型的一实施例，探针长度不超过2厘米。

根据本实用新型的一实施例，隔直器由运算放大器、电容和电阻构成。运算放大器的负极输入端口与输出端口连接，运算放大器的正极输入端连接电容及电阻，电阻另一端接地，电容另一端接收输入信号。

采用了本实用新型的技术方案，在频谱仪的输入端连接隔直器，并且通过隔直器的设置，可以测试交直流混合的射频信号，同时保护了频谱仪。而且价格不高，使用较为方便，试用于开放式射频电路测试。

附图说明

在本实用新型中，相同的附图标记始终表示相同的特征，其中：

图1是本实用新型高频信号测试装置的结构示意图；

图2是图1中隔直器的电路图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例进一步说明本实用新型的技术方案。

参照图1，本实用新型的高频信号测试装置包括频谱仪10、隔直器11、电缆12和探针13。如图1所示，隔直器11的一端连接在频谱仪10的输入端，其作用是阻止直流输入。隔直器11的另一端连接一个柔性的、外表覆盖有屏蔽层的同轴电缆12，例如SMA的柔性电缆。在同轴电缆12的另一端，可以设置有探针13，探针13可根据情况自制，也可以是常见的电子元器件市场上的普通探针，探针13要尽可能地做得短一点，一般不超过2厘米。

隔直器11的具体电路结构如图2所示。隔直器11由运算放大器21、电容22和电阻23构成。运算放大器21的负极输入端口与输出端口OUT连接，运算放大器21的正极输入端连接电容22及电阻23，电阻23的另一端接地，电容22的另一端接收输入信号IN。

对于开放式电路，各种信号辐射较大，对被测信号的干扰也就会通过电缆被频谱接收到，所以相对于准确测量，本实用新型的高频信号测试装置更适用于功能性的测试。

采用了本实用新型的技术方案，在频谱仪的输入端连接隔直器，并且通过隔直器的设置，可以测试交直流混合的射频信号，同时保护了频谱仪。而且价格不高，使用较为方便，试用于开放式射频电路测试。

本技术领域中的普通技术人员应当认识到，以上的说明书仅是本实用新型众多实施例中的一种或几种实施方式，而并非用对本实用新型的限定。任何对于以上所述实施例的均等变化、变型以及等同替代等技术方案，只要符合本实用新型的实质精神范围，都将落在本实用新型的权利要求书所保护的范围内。