[实用新型]射频同轴电缆发泡层粘附力测试治具有效
申请号: | 201220279471.7 | 申请日: | 2012-06-14 |
公开(公告)号: | CN202757872U | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 沈小平;郭红彪;喻志安;杨力;杨俊杰;庄莉丽 | 申请(专利权)人: | 江苏通鼎光电股份有限公司 |
主分类号: | G01N19/04 | 分类号: | G01N19/04 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 孙仿卫 |
地址: | 215233 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射频 同轴电缆 发泡 粘附 测试 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种用于辅助射频同轴电缆发泡层粘附力测试的测试治具。
背景技术
在射频同轴电缆的生产过程中,由于异常原因(如人员误操作、原材料不良、机器故障等)的存在,可能导致发泡层与内导体粘附力大或小的问题。粘附力大会造成发泡层的内皮层粘附在内导体表面而无法剥离,粘附力小会造成内导体脱离发泡层。现有的针对发泡层的粘附力的测试,是采用拉力机并配合不同的测试治具完成的。不同规格的射频同轴电缆采用不同的测试治具,当一种射频同轴电缆测试完成后,需更换另一治具以对其他规格的射频同轴电缆进行测试。由于治具需频繁更换,影响测试效率,容易因其安装不合理而造成测试结果错误,且治具易磨损而降低治具的使用寿命。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种可以提高测试效率、减少测试错误且降低治具更换成本的射频同轴电缆发泡层粘附力测试治具。
为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是:
一种射频同轴电缆发泡层粘附力测试治具,用于辅助检测射频同轴电缆的发泡层的粘附力,其包括治具本体,所述的治具本体上开设有若干个与不同规格的射频同轴电缆相配合的测试孔。
优选的,所述的测试孔为阶梯孔。
优选的,其还包括治具架,所述的治具本体安装于所述的治具架上。
优选的,所述的治具架上开设有插孔,所述的治具本体滑动的插入所述的插孔中,所述的治具架上还开设有螺孔,所述的螺孔中设置有与其相配合的调节螺丝,所述的调节螺丝抵紧在所述的治具本体上。
优选的,所述的治具架上开设有容纳腔,当所述的治具本体安装于所述的治具架上时,所述的测试孔位于所述的容纳腔的上方。
本实用新型在使用时,可以不更换治具本体而对不同规格的射频同轴电缆进行发泡层粘附力测试,可以提高存测试效率,避免因频繁更换治具而带来的测试错误、并能大大提高治具的使用寿命,降低了治具的更换成本。
附图说明
附图1为本实用新型的射频同轴电缆发泡层粘附力测试治具的主视示意图。
附图2为本实用新型的射频同轴电缆发泡层粘附力测试治具的俯视示意图。
附图3为本实用新型的射频同轴电缆发泡层粘附力测试治具的俯视示意图。
附图4为本实用新型的射频同轴电缆发泡层粘附力测试治具的使用示意图。
以上附图中:1、治具本体;2、治具架;3、测试孔;4、1/2射频同轴电缆测试孔;5、7/8射频同轴电缆测试孔;6、容纳腔;7、腔壁;8、调节螺丝;9、拉力机;10、射频同轴电缆。
具体实施方式
下面结合附图所示的实施例对本实用新型作进一步描述。
实施例一:参见附图1所示。
一种射频同轴电缆发泡层粘附力测试治具,用于辅助检测射频同轴电缆10的发泡层的粘附力。
该射频同轴电缆发泡层粘附力测试治具包括治具本体1、治具架2。治具本体1上开设有若干个与不同规格的射频同轴电缆10相配合的测试孔3,测试孔3为阶梯孔。治具本体1上开设的测试孔3可根据实际需要选择,如附图2所示的治具本体1上开设有1/2射频同轴电缆测试孔4和7/8射频同轴电缆测试孔5,或是如附图3所示再开设有若干个适用于其他规格的射频同轴电缆使用的测试孔3。
治具架2上开设有容纳腔6,容纳腔6的相对的两个腔壁7上开设有插孔,治具本体1滑动的插入插孔中。腔壁7的顶部开设有螺孔,螺孔中设置有与其相配合的调节螺丝8。当治具本体1安装于治具架2上时,测试孔3位于容纳腔6的上方,测试孔3的孔径较大的部分靠近容纳腔6,而测试孔3的孔径较小部分远离容纳腔6。调节螺丝8抵紧在治具本体1上将治具本体1安装于治具架2上。
参见附图4所示。在对某一规格的射频同轴电缆10进行发泡层粘附力测试时,将该射频同轴电缆发泡层粘附力测试治具安装于拉力机9上。调节治具本体1的位置,使治具本体1上与上述射频同轴电缆相适应的测试孔3位于拉力机9的测试拉头的下方。将待测试的射频同轴电缆10插入测试孔3中,通过拉力机9拉动射频同轴电缆10使其内导体与发泡层相剥离来测试该射频同轴电缆10的发泡层的粘附力。
当测试完一种规格的射频同轴电缆时,旋松调节螺丝8,并在插孔中滑动治具本体1以便进行后续的测试,调节好治具本体1的位置后,旋紧调节螺丝8将治具本体1与治具架2相固定。
本测试治具可以减少更换治具的此时,提高测试的准确度和测试效率,增加了设备的使用寿命。
上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施,并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
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