[实用新型]用于检测MCU电压的检测电路

说明书

技术领域

本实用新型属于电压检测技术领域，尤其涉及一种用于检测MCU电压的检测电路。 

背景技术

随着大规模集成电路的出现及发展，微控制单元(micro controller unit，MCU)可以将计算机的CPU、RAM、ROM、定时数器和多种I/O接口集成在一片芯片上，形成芯片级的计算机，为不同的应用场合做不同组合控制。 

目前的电子产品是一般都由1颗或1颗以上的MCU组成的系统，MCU的电源电压是由电池直接供电或者电池分压后供电的，通过电池分压供电时，MCU的电源电压跟随电池电压的变化而变化，因此通过检测MCU的电源电压VDD能得知当前的电池电压。当电池电压下降到某一值时，会对系统的某些性能产生影响。因此需要对电池电压或者与电池电压有跟随关系的电压进行检测，当检测电压下降到某一阈值时，自动禁止系统的部分功能并提醒更换电池。 

MCU的输入电压检测通常需要利用MCU内置的A/D转换器或者低压检测模块，就可以方便实现电压检测功能，内置A/D转换器或者低压检测模块虽然检测结果较为精确，但是会同时导致MCU的成本增加。在一些低成本的MCU 中，并未内置A/D转换器或者低压检测模块，其可以简单的通过外部扩展A/D转换器来实现电压检测功能，但是此种情况下成本并未降低。由上述分析可知，对于一些电压检测精度要求不高，而成本控制要求相对较高的场合，通过内置或者外部扩展A/D转换器的方式都无法满足成本方面的要求。因此有必要开发一种成本更低，同时还能完成MCU的输入电压检测功能的检测电路。 

实用新型内容

本实用新型提供一种用于检测MCU电压的检测电路，在降低成本的同时还能完成MCU电压检测功能。 

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种用于检测MCU电压的检测电路，所述MCU包括第一I/O端口、第二I/O端口、定时装置、被测电压端口、连接电源电压VDD的电压输入端和接地端，所述被测电压端口的电压跟随电源电压VDD，其特征在于，所述检测电路包括电容、电阻和钳位模块,所述电阻的一端连接所述被测电压端口，所述电阻的另一端连接所述电容的一端、所述钳位模块的一端以及所述第一I/O端口，所述钳位模块的另一端连接所述第二I/O端口，所述电容的另一端接地，所述电容放电时，电容放电电荷经由所述钳位模块放电，电容放电电压达到钳位模块的钳电压时电容停止放电。 

可选的，所述被测电压端口电压为V1，所述钳位模块的钳位电压为VD，所述电容的容值为C，所述电阻的阻值为R，所述电容电压为Vc，所述第一I/O端口的输入高电平门限电压为VH，所述第二I/O端口的输出电压由MCU控制。 

可选的，被测电压端口电压V1根据电阻的阻值R、电容的容值C、钳位模块的钳位电压VD、第一I/O端口的输入高电平门限电压VH以及电容从钳位电压VD充电到第一I/O端口的输入高电平门限电压VH的充电时间T得到，关系式为：T=RC*ln(V1-VDV1-VH).]]>

可选的，设置所述第一I/O端口为输入端口，第二I/O端口输出初始状态为高电平，第一I/O端口输入端口的电压等于电容电压Vc，设置所述第二I/O端口为输出端口，所述电容电压Vc的初始值Vc等于被测电压端口电压V1；将所述第二I/O端口输出由初始的高电平状态设置为低电平，所述电容开始放电，当电容电压Vc由V1放电到钳位电压VD时，即Vc=VD时，电容放电结束；然后将所述第二I/O端口输出设置为高电平，所述电容开始充电，电容电压Vc由VD开始上升到被测电压端口电压V1，当电容电压Vc大于第一I/O端口的输入高电平门限电压VH时，所述第一I/O端口变为高电平，所述定时装置从所述第二I/O端口为高电平时开始计时，到所述第一I/O端口变为高电平时结束计时，在此期间内，所述定时装置的计时即为所述检测电路的充电时间T，所述检测电路的充电时间T与MCU的被测电压V1的关系为： 

可选的，所述钳位模块包括一个二极管或者多个串联的二极管。