[实用新型]用于检测MCU电压的检测电路有效
| 申请号： | 201220287499.5 | 申请日： | 2012-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN202710640U | 公开（公告）日： | 2013-01-30 |
| 发明（设计）人： | 郑尊标;朱蓉 | 申请（专利权）人： | 杭州士兰微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 310012*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 检测 mcu 电压 电路 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于检测MCU电压的检测电路，所述MCU包括第一I/O端口和第二I/O端口、定时装置、连接电源电压VDD的电压输入端和接地端，其特征在于，所述检测电路包括电容、电阻和钳位模块，所述钳位模块的一端连接所述第一I/O端口，所述钳位模块的另一端连接所述电容的一端、电阻的一端以及第二I/O端口，所述电阻的另一端连接所述电容的另一端然后接地，所述电容经由所述钳位模块充电，电容充电电压达到电源电压VDD减去钳位模块的钳位电压VD时，电容停止充电。
2.如权利要求1所述的用于检测MCU电压的检测电路，其特征在于，所述钳位模块的钳位电压为VD，所述电容的容值为C，所述电阻的阻值为R，所述电容电压为Vc，所述第一I/O端口的输出电压由MCU控制，所述第二I/O端口的输入低电平门限电压为VL。
3.如权利要求2权利所述的用于检测MCU电压的检测电路，其特征在于，所述钳位模块包括一个二极管或者多个串联的二极管。
4.如权利要求3所述的用于检测MCU电压的检测电路，其特征在于，所述钳位模块的钳位电压VD为二极管的正向压降。
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