[实用新型]磁粉流动性测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及无损探测领域，尤其涉及一种磁粉流动性测量装置。

背景技术

干法磁粉检测是无损检测磁粉检测的一种方法，所采用的磁粉为具有一定粒度和形状的磁粉颗粒。在干法磁粉探伤时，干磁粉被撒在工件表面，然后在外加磁场的作用下在工件表面流动，遇到漏磁场（缺陷处的磁场突变）时聚集形成磁痕。

磁粉的流动性能是影响干法磁粉检测的重要指标。在磁场的作用下，磁粉流动性太差，磁粉则不容易流动到到漏磁场，从而不容易判断缺陷；若磁粉的流动性太好，在遇到漏磁场不会停留形成磁痕，也不利于缺陷的判断。磁粉流动性能主要受磁粉颗粒的形状影响，若圆形颗粒（长宽比较小）比较多则流动性好，若条形颗粒（长宽比较大）较多则形成磁痕的能力强。可以看出磁粉流动性能对干法磁粉检测的效果具有非常重要的影响，目前虽有如CN200620075490.2专利所公开的一种粉体流动性测试装置,却无测量干法磁粉流动性能的装置和方法，也无法进行定量分析、判断。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决上述的技术问题，提供一种能够对干法磁粉的流动性能进行量化测定和评价的磁粉流动性测量装置。

本实用新型的目的通过提供以下一种磁粉流动性测量装置实现：

一种磁粉流动性测量装置，包括：底座及安放于底座上的铁磁性的试块；磁轭，与试块平面接触；支架及安装在支架上的漏斗，所述漏斗位于试块的上方，所述漏斗用于盛装磁粉。

优选的，所述漏斗和所述磁轭分别位于试块的纵向上的前部和后部。

优选的，所述试块为平板状。

优选的，所述底座的纵向中轴线和所述试块的纵向中轴线重合。

优选的，所述磁轭的截面面积为20cm×20cm，线圈匝数为200圈至250圈。

优选的，所述磁轭位于试块的边缘，和试块的接触面积不小于20cm×30cm。

优选的，所述漏斗的开口朝下，正对试块的纵向中轴线。

优选的，所述漏斗的开口正对试块的纵向中轴线上的1/5至1/4处。

优选的，所述漏斗的开口的孔径为2±0.5mm。

优选的，所述漏斗的开口和所述试块的距离在100mm至200mm之间。

本实用新型的有益效果主要体现在：通过采用本实用新型的磁粉流动性测量装置,能够很准确地计算出从漏斗开口落下的磁粉在试块表面的磁力作用下的分布，能够方便、量化的得到被测试的磁粉的流动性数据。

以下便结合实施例附图，对本实用新型的具体实施方式作进一步的详述，以使本实用新型技术方案更易于理解、掌握。

附图说明

图1为本实用新型的具体实施方式的磁粉流动性测量装置的结构图。

图2为本实用新型的具体实施方式的试块的俯视图。

图3为本实用新型的具体实施方式的漏斗的示意图。

具体实施方式

参照图1、图2、图3，本实用新型的具体实施方式中，磁粉流动性测试装置由底座1、试块2、支架3、漏斗4和磁轭5组成。

底座1是整个装置的支撑平台，试块2固定放置在底座1上，纵向中轴线7与底座的纵向中轴线重合，其纵向上具有前部和后部，磁轭5位于试块2的前部，漏斗4位于试块2的后部。试块2成平板状，具体尺寸规格为220mm×150mm×25mm，表面粗糙度为MRR Ra1.6μmm。试块2为铁磁性材料，具体材质为40#车轴钢。

支架3在底座1的纵向中轴线上竖立。支架3上有一横杆，横杆末端有一圆环，圆环的直径小于40mm，即也小于锥形的漏斗4底部直径，使漏斗4可以尖端朝下放置在圆环上。

锥形的漏斗4由具有一定刚性的材料制成，如铜，优选为紫铜。漏斗4厚度为1mm、高70mm、底部直径40mm，漏斗尖端有开口，孔直径为2mm±0.5mm。漏斗4的开口正对试块2的纵向中轴线，优选的正对试块中心线1/5~1/4处，开口与试块2表面的距离最好为100mm~200mm。

试块的前部边缘处表面中间放置磁轭5，磁轭5为单级电磁轭，截面面积为20cm×20cm，电磁轭上的线圈匝数为230匝。磁轭5其与试块2表面接触，接触面积为20mm×35mm。

以下介绍本具体实施方式的磁粉流动性测试步骤。