[实用新型]一种工艺找正装置有效
申请号: | 201220349556.8 | 申请日: | 2012-07-19 |
公开(公告)号: | CN202726642U | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | 王飞航;吴江;王东 | 申请(专利权)人: | 西安西航集团莱特航空制造技术有限公司 |
主分类号: | B23Q17/22 | 分类号: | B23Q17/22 |
代理公司: | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人: | 李罡 |
地址: | 710021 陕西省*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 工艺 装置 | ||
技术领域
本实用新型属于机加工艺技术领域,具体涉及一种工艺找正装置。
背景技术
机械加工过程中,零件的快速找正和准确定位是提高加工效率和保证加工质量的前提。找正孔中心的常规方法是,主轴中心线和孔中心线平行,在钻卡上装百分表,靠钻卡三爪定心保证主轴中心和百分表回转中心同心,借用百分表来找正孔中心。但在主轴中心线和孔中心线垂直的情况下,确定主轴中心相对于基准的数值很难实现。找正过程繁琐,效率低,可靠性差。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种工艺找正装置,以解决现有技术中存在的找正过程繁琐,效率低,可靠性差的问题。
为了解决现有技术存在的问题,本实用新型所采用的技术方案是:一种工艺找正装置,包括工艺块,其特征在于:所述工艺块包括基准面和测量面,所述测量面上开设有相互垂直的两个基准槽,测量面中心开设有基准孔。
上述基准槽的宽度为8~16毫米,基准孔的孔径为8~16毫米。
本实用新型相对于现有技术,具有如下优点和效果:
1.通过使用本实用新型的工艺找正装置,很好地解决了零件在装夹过程中的找正和加工零点设定问题。实际生产中,环形零件加工位置在圆周方向时,往往使用卧式机床,机床的主轴处于水平状态,但角向孔在零件端面上,孔心(角向)找正困难。借用工艺块的使用,通过转化它们的位置关系,巧妙将这两者关联起来,可直观准确得确定主轴中心到基准的距离数值。另外,借用工艺块的使用,还可以确定孔或面到基准的相对距离值,灵活设定加工零点。
2. 测量面上开设有相互垂直的两个基准槽,基准槽用于测量基准面到机床主轴的距离,相互垂直的两个基准槽可以分别确定两个相互垂直方向上的基准面到机床主轴的距离而不用转动工艺块,操作简便,找正效率高。
3. 测量面中心开设有基准孔,基准孔主要用于测量零件上的待测孔中心到机床主轴的距离,测量过程简便,精度高。
4. 本实用新型在零件装夹找正时能够将机床主轴中心和零件基准联系起来,把两者之间的相对位置显性化,通过机床面板具体数字显示出来,做到了直观和数量化,保证零件正确装夹和加工零点的正确设定。
5. 本实用新型可在机床主轴中心线和待测孔中心线垂直的情况下,把工艺块竖直放置,使找正位置巧妙转换,通过本装置的工艺孔来准确快速确定它们的位置关系。本工艺装置还可用于方形、箱体类零件需要从基准面窜一定距离来设定加工零点的情况。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是本实用新型的A-A剖视图;
图3是本实用新型的使用状态示意图;
其中:1-工艺块、2-基准面、3-测量面、4-基准槽、5-基准孔、6-百分表、7-钻夹。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做详细说明:
参照图1~2,一种工艺找正装置,包括工艺块1,其特征在于:所述工艺块1包括基准面2和测量面3,所述测量面3上开设有相互垂直的两个基准槽4,测量面中心开设有基准孔5。上述基准槽4的宽度为8~16毫米,基准孔5的孔径为8~16毫米。
参照图3,使用时,例如选基准槽4宽为12±0.002毫米, 基准孔5可以是通孔,也可以是盲孔,基准孔5的直径为φ12±0.002。找正时,将百分表6安装在钻夹7上,因为钻夹7的夹头是三爪自定心(即主轴中心),这样百分表6的回转中心就和主轴中心线重合。用百分表6找工艺块1的基准槽4槽宽中心或工艺块1上基准孔5的中心后,转动百分表表盘,表针指在“0”刻度处,然后百分表6保持当前状态不动,移动主轴到要找正的基准,用机床手轮调整机床主轴,使百分表表针指在“0”刻度处,就可确定主轴中心到要找正的基准的距离,即槽宽的一半值或孔径的一半值(即6±0.001)。
当遇到主轴中心线和待测孔中心线垂直的情况下,首先在零件待测孔中心安装定位销,使待测孔中心和定位销中心一致,此时用百分表6找工艺块1的基准槽4槽宽中心或工艺块1上基准孔5的中心后,转动百分表表盘,表针指在“0”刻度处,然后百分表6保持当前状态不动,移动主轴到安装的定位销处,用手轮调整机床主轴,在销子外圆最高处压表,使百分表表针指在“0”刻度处,就可确定主轴中心到定位销中心的距离,即槽宽的一半值或孔径的一半值,由于待测孔中心和定位销中心一致,则可以确定主轴中心到待测孔中心的距离。
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