[实用新型]可调节的采样头基座及包括该采样头基座的颗粒监测仪器有效
| 申请号： | 201220362445.0 | 申请日： | 2012-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN202757866U | 公开（公告）日： | 2013-02-27 |
| 发明（设计）人： | 潘军花;王祺;陈蓉 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N1/22 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 王敏杰 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 调节 采样 基座 包括 颗粒 监测仪器 | ||
【权利要求书】：
1.一种可调节的采样头基座，应用于采样头及采样软管的固定，其特征在于，包括连杆与底座；所述连杆下部为长度固定的管状结构，所述连杆的上部为可伸缩的套接管状结构；所述底座与所述连杆活动连接。
2.如权利要求1所述的可调节的采样头基座，其特征在于，所述连杆采用不锈钢材料。
3.如权利要求1所述的可调节的采样头基座，其特征在于，所述连杆的管状结构直径大于采样软管的直径。
4.一种颗粒监测仪器，其特征在于，包括如权利要求1至3中任意一项所述的可调节的采样头基座。
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