[实用新型]Q开关晶体调试固定架有效
| 申请号： | 201220365919.7 | 申请日： | 2012-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN202797599U | 公开（公告）日： | 2013-03-13 |
| 发明（设计）人： | 王晖;陈菁蓉;汝军;桑振;李启明 | 申请（专利权）人： | 合肥广安科技开发有限责任公司 |
| 主分类号： | H01S3/10 | 分类号： | H01S3/10;H01S3/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230000 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 开关 晶体 调试 固定 | ||
【权利要求书】：
1.Q开关晶体调试固定架，包括Q开关晶体、Q开关晶体固定架和调整架，其特征在于：所述的Q开关晶体固定架固装于调整架上，Q开关晶体固定架与调整架上通过螺纹连接固定，Q开关晶体设置于Q开关晶体固定架内，通过3个螺丝钉固定。
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