[实用新型]一种测试设备有效

专利信息
申请号: 201220366560.5 申请日: 2012-07-27
公开(公告)号: CN202748453U 公开(公告)日: 2013-02-20
发明(设计)人: 胡小青 申请(专利权)人: 苏州贝腾特电子科技有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327;H02M5/45
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215121 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 设备
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种测试设备。

背景技术

根据国家标准GB14048.2-2001,GB16916.1-2003,GB16917.1-2003等规定:对无论是突然施加或缓慢上升的具有规定的剩余脉动直流或剩余正弦交流电流,能确保在规定时间内脱扣的漏电断路器称为A型漏电断路器。对无论是突然施加或缓慢上升的具有无直流分量的剩余正弦交流电流,能确保在规定时间内脱扣的漏电断路器,称为AC型漏电断路器。由上可知,A型漏电断路器覆盖了AC型漏电断路器的功能。

上述“规定的剩余脉动电流”为以下4种情况:电流滞后电压0°的半波整流电流、电流滞后电压90°的半波整流电流、电流滞后电压135°的半波整流电流、含有6mA直流的电流滞后电压0°的半波整流电流。

现有技术中不存在对A型漏电断路器进行测量的装置。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种测试范围较广且性能较为稳定可靠的测试设备。

为解决上述技术问题,本实用新型提供了一种测试设备,包括交流电源电路、相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路;相位产生电路包括可控硅电流控制电路;所述可控硅电流控制电路包括:根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号而导通的三极管BG18、由三极管BG18驱动的光耦芯片IC4,由光耦芯片IC4控制通断的双向可控硅BG19,双向可控硅BG19的A、K极串联在外接模拟漏电回路中。

本实用新型具有积极的效果:(1)本实用新型通过改进可控硅电流控制电路,使其结构较为合理,能够有效满足特殊漏电断路器的测试需求。

附图说明

下面将结合附图对本实用新型作进一步的解释,其中附图如下:

图1为实施例1的测试设备的外形结构示意图;

图2为实施例1的测试设备的部分电原理图;

图3为实施例1的测试设备的另一部分电原理图。

具体实施方式

(实施例1)

见图1-3,测试设备本实施例是一种用于测试漏电断路器的测试设备,包括:交流电源电路1、直流供电电路7、相位产生电路2、交流漏电调节电路3、相位显示电路6、指示灯电路5和时间检测电路4。

交流电源电路1具有用于构成负载回路的第一火线端和用于构成模拟漏电回路的第二火线端,第一火线端和第二火线端用于与被测设备9的火线输入端相连,所述负载回路的零线端用于与被测设备9的零线端相连。本实施例中被测设备9是A型漏电断路器。

相位产生电路2用于与被测设备9的火线输出端L2相连;相位产生电路2包括控制按钮电路,控制按钮电路用于控制相位产生电路2在所述模拟漏电回路中分别生成电流滞后电压0°的半波整流电流、电流滞后电压90°的半波整流电流、电流滞后电压135°的半波整流电流和含有6mA直流的电流滞后电压0°的半波整流电流。

交流漏电调节电路3用于控制所述模拟漏电回路的电流大小;时间检测电路4用于测量从所述模拟漏电回路导通至A型漏电断路器脱扣所需的时间,即动作时间。

所述相位产生电路2包括:电流滞后电压0°的第一半波整流电路、电流滞后电压90°的第二半波整流电路、电流滞后电压135°的第三半波整流电路、6mA直流生成电路、以及用于根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号在所述模拟漏电回路中分别生成电流滞后电压0°的半波整流电流、电流滞后电压90°的半波整流电流、电流滞后电压135°的半波整流电流和含有6mA直流的电流滞后电压0°的半波整流电流的可控硅电流控制电路。

所述电流滞后电压135°的第三半波整流电路包括:由变压器T2、二极管D5、电阻R3、R4、R5、R6、R7和运算放大器IC1A构成的正弦波整形成电路,与运算放大器IC1A的输出端相连的由电阻R8、电容C5构成的充电电路,由二极管D6、D7构成的与门;用来设定相对于电流滞后电压135°的整定电压的电阻R9和R10,用来调节运算放大器IC1B的反向端的相对于电流滞后电压135°的比较电压的电阻R11和电位器WR1,运算放大器IC1B的输出端用于输出电流滞后电压135°的控制信号。

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