[实用新型]基于LABVIEW的IC测试系统

说明书

技术领域

本新型涉及电子电路领域，尤指一种基于软件控制的IC测试系统结构。

背景技术

随着高频芯片的应用越来越广泛，如GPS、手机、WIFI等，对高频的测试需求也越来越多。其必须通过专门的测试机来整合相关测试资源，但是专业的高频测试机台（RF Tester）相当昂贵。

以市场上常见的专业RF测试机台以Terayne的UltraFLEX为例，机台的价钱在150万美元左右，每小时的租金在120美元，其需要专业的芯片测试开发人员开发测试程序，专业的PCB布线人员画原理图、布线，专业的PCB板厂制作DIB板，其开发周期长、门槛高。对于不适于特定专业测试的芯片，如果使用专业的测试机台，公司在购入或租借测试系统需要因此投入相当大量的资金。

发明内容

本实用新型目的在于摒弃现有技术，提供一种有效整合分选机及其它测试相关设备的IC测试系统，其不必通过专门的测试机来整合相关测试资源。

为解决上述技术问题，本新型采用的技术方案如下：

构造一种基于LABVIEW的IC测试系统，其包括数字电源、信号发生器、频谱仪及机械手臂，所述的数字电源连接被测IC芯片的电源输入端提供电源，所述的信号发生器连接被测IC芯片的信号输入端，所述的频谱仪连接被测芯片的信号输出端，所述的机械手臂移动或紧压所述的被测IC芯片。

进一步地，所述的信号发生器、频谱仪及机械手臂分别通过GPIB接口与LABVIEW测试平台主机连接。

本新型的有益效果是：使用Labview开发软件整合市面上常用测试仪表：信号发生器、频谱分析仪、示波器等，芯片设计公司可以直接使用他们的研发工板，配合工程调试用的测量仪器，可以大大缩短测试方案开发时间、降低测试方案开发难度、节约测试成本。而开发一些低成本的RF测试方案，可以有效满足芯片设计公司的需求，也可提升测试厂的技术能力。

附图说明

图1是本新型的测试系统连接图示。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本新型作进一步详述。

如图1所示，其揭示了本实施例中的较佳具体结构，一种基于LABVIEW的IC测试系统，其包括数字电源、信号发生器、频谱仪及机械手臂，所述的数字电源连接被测IC芯片的电源输入端提供电源，所述的信号发生器连接被测IC芯片的信号输入端，所述的频谱仪连接被测芯片的信号输出端，所述的机械手臂移动或紧压所述的被测IC芯片。

进一步地，所述的信号发生器、频谱仪及机械手臂分别通过GPIB接口与LABVIEW测试平台主机连接。所述的LABVIEW测试平台主机控制着整个测试流程的执行，其整合常用的测试仪表，包括信号发生器、频谱分析仪和示波器，本实施例中的信号发生器、频谱仪、机械手臂通过利用GPIB接口与被测IC芯片连接进行通讯。

本新型所应用的系统基于LABVIEW平台结构，其使用的仪器连接结构简单，而且成本低的同时可实现与专业仪器相同功能的检测，决定了芯片设计公司可以直接使用他们的研发工板，配合工程调试用的测量仪器，其可以大大缩短测试方案开发时间、降低测试方案开发难度、节约测试成本。

以上所述，仅是本新型的较佳实施例而已，并非对新型的技术范围作任何限制，故凡是依据本新型的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变化与修饰，均仍属于本等同实用新型技术方案的范围内。