[实用新型]一种用于晶片电阻检测的定位装置有效
| 申请号： | 201220396222.6 | 申请日： | 2012-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN202815018U | 公开（公告）日： | 2013-03-20 |
| 发明（设计）人： | 李永传;徐明哲;李刚;陈海滨;黄斌;马新升 | 申请（专利权）人： | 昆山市和博电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R27/02 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 晶片 电阻 检测 定位 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括对射光电感应器、对射光电感应器安装支架和产品托板，其特征在于：在产品托板上开设有用于放置产品的放置开口，在放置开口的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口，所述对射光电感应器安装支架伸入到定位开口内，所述对射光电感应器安装在对射光电感应器安装支架上。
2.根据权利要求1所述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于：所述两个定位开口对称设置。
3.根据权利要求2所述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于：在放置开口的上下两侧分别贯通连接有一个定位爪竖向避让口，在放置开口的左右两侧分别贯通连接有两个定位爪横向避让口。
4.根据权利要求3所述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于：所述两个定位爪横向避让口分别位于定位开口的上下两侧。
5.根据权利要求4所述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于：所述定位爪竖向避让口对称设置，所述定位爪横向避让口两两对称设置。
6.根据权利要求5所述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于：在上方或下方的定位爪竖向避让口的两侧分别设置有一个光源透孔。
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