[实用新型]电性测试装置及系统有效
| 申请号： | 201220407263.0 | 申请日： | 2012-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN202758021U | 公开（公告）日： | 2013-02-27 |
| 发明（设计）人： | 张弓长;王文赫;曾元宏 | 申请（专利权）人： | 国网电力科学研究院;国家电网公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人： | 王正茂;彭晓玲 |
| 地址： | 210003 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 装置 系统 | ||
1.一种电性测试装置，其特征在于，包括一个基板，所述基板上设有至少一个芯片卡槽，所述芯片卡槽中设有至少一根与一个芯片管脚形成电连接的管脚延长导线，每根所述管脚延长导线从所述芯片卡槽中延伸到所述基板上，每根所述管脚延长导线均在所述基板的表面上形成一个探测点。
2.根据权利要求1所述的电性测试装置，其特征在于，所述探测点的直径至少为1mm。
3.根据权利要求1所述的电性测试装置，其特征在于，所述管脚延长导线是至少两根，并且任意两根所述管脚延长导线形成的所述探测点彼此的间距至少为2mm。
4.根据权利要求1-3任一项所述的电性测试装置，其特征在于，所述管脚延长导线是复数个，并且所述管脚延长导线的宽度和相互的间距按照芯片管脚的封装标准布置。
5.一种电性测试装置，其特征在于，包括一个基板，所述基板上设有至少一个用于卡接测试样品的管脚的卡槽，所述卡槽中设有至少一根与一个测试样品的管脚形成电连接的管脚延长导线，每根管脚延长导线从所述卡槽中延伸到所述基板上，每根管脚延长导线均在所述基板的表面上形成一个探测点。
6.根据权利要求5所述的电性测试装置，其特征在于，所述探测点的直径至少为1mm。
7.根据权利要求5所述的电性测试装置，其特征在于，所述管脚延长导线是至少两根，并且任意两根所述管脚延长导线形成的所述探测点彼此的间距至少为2mm。
8.根据权利要求5-7任一项所述的电性测试装置，其特征在于，所述管脚延长导线是复数个，并且所述管脚延长导线的宽度和相互的间距按照芯片管脚的封装标准布置
9.一种电性测试系统，其特征在于，包括根据权利要求5至8中任一项所述的电性测试装置，还包括测试器件。
10.根据权利要求9所述的电性测试系统，其特征在于，所述测试器件包括测试笔，所述测试笔放置于所述探测点上进行电性测试。
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