[实用新型]高分辨力双轴自准直仪系统有效

专利信息
申请号: 201220432506.6 申请日: 2012-08-28
公开(公告)号: CN202814358U 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 王震;张俊杰;张忠武;李永刚;孙方金 申请(专利权)人: 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 100076*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 分辨力 准直仪 系统
【权利要求书】:

1.一种高分辨力双轴自准直仪系统,其特征在于:该系统包括仪器外壳(14)以及固定在仪器外壳(14)上的物镜组套筒(2),其中,物镜组套筒(2)由前后依次设置的物镜前组(1)和物镜后组(4)组成,仪器外壳(14)内安装有水平LED光源(8)、垂直LED光源(19)、水平准直分划板(10)、垂直准直分划板(17)、分光棱镜A(11)、分光棱镜B(12)、分光棱镜C(16)以及反光镜(13),其中,反光镜(13)对通过物镜后组(4)的水平光线进行反射,形成垂直光线,射入两个依次布置的分光棱镜B(12)以及分光棱镜A(11),并在分光棱镜A(11)的垂直光线通路上依次设有水平准直分划板(10)、水平聚光镜(9)以及水平LED光源(8),分光棱镜A(11)反射的水平光线通路上依次安装有显微物镜B(7)和垂直安装的第二线阵CCD(5);分光棱镜B(12)反射的水平光线通路上依次安装有分光棱镜C(16)、显微物镜A(6)以及水平安装的第一线阵CCD(3),且在分光棱镜C(16)垂直水平面的反射光线通路上依次安装有垂直准直分划板(17)、垂直聚光镜(18)以及垂直LED光源(19)。

2.根据权利要求1所述的一种高分辨力双轴自准直仪系统,其特征在于:所述的反光镜(13)由若干个反光镜组成,可以对通过物镜后组(4)的水平光线进行若干次折叠反射后,形成垂直光线。

3.根据权利要求1所述的一种高分辨力双轴自准直仪系统,其特征在于:所述的水平准直分划板(10)或垂直准直分划板(17)安装在物镜前组(1)和物镜后组(4)的焦面上。

4.根据权利要求1所述的一种高分辨力双轴自准直仪系统,其特征在于:所述的物镜组套筒(2)通光口径D=50mm,焦距f'=1000mm。

5.根据权利要求4所述的一种高分辨力双轴自准直仪系统,其特征在于:所述的显微物镜A(6)或显微物镜B(7)的光学放大倍数K=7.5。

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