[实用新型]一种检测设备往复运动机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种机械装置，特别是可以降低摩擦阻力的检测设备往复运动机构。

背景技术

目前，科技产品的成品或半成品测试工作项目如： LCD合格率测试、LCM合格率测试、LCD合格率测试、PCB合格率测试、半导体合格率测试，及其它诸如此类的成品、半成品产品测试工作，皆需要通过一套完整的检测设备或检测仪器进行精确的检验或测试，以确认该成品或半成品在生产过程中是否符合产品标准。故上述产品是否能有效的过滤检测、保障产品之质量合格率，检测所用仪器及设备的重要性是不可忽视的。现有产业间所使用的检测仪器和设备中，因必须重复某一类动作而且要求按其准确度（如直线反复运动）来设计一种往复运动机构、并适用于大量检测动作尤属重要。然而，现有直线反复运动装置在使用时，存在下列问题与缺失：1.反复做动摩擦无滑动辅助机构如公模、母模间的摩擦面积及摩擦系数较大问题；2.公模、母模之间大量重复来回磨损，长时间将造成间隙增大，往复作动精度降低，使检测精度越来越差，达不到产品检测要求；3.由于公、母模之间的间隙越来越大，在做往复运动时，亦会发生摩擦碰撞及滑动抵撞而损伤公、母模之配合问题。

实用新型内容

本实用新型用于解决上述已有技术之缺陷而提供一种可以减少摩擦面积、降低摩擦系数的检测设备往复运动机构。

本实用新型所称问题是以下述技术方案解决的：

一种检测设备往复运动机构，由公模、母模组成，公模、母模为相对直线往复运动关系，所述母模设有与公模外廓匹配的包覆结构，其特别之处是：所述母模上设有滑槽，所述公模与母模相对应的面上设有与滑槽匹配的滑柱，滑柱、滑槽滑动配合。

上述检测设备往复运动机构，所述滑槽设置在母模棱边处，所述滑柱设置在公模周边，所述公模与母模间留有运动间隙。

上述检测设备往复运动机构，所述各滑柱高度小于各滑槽深度。

上述检测设备往复运动机构，所述各滑槽底部设有卡扣。

本实用新型针对现有往复运动机构摩擦接触面积及摩擦系数大，导致往复运动机构易磨损，运动精度难以保证的问题进行了改进，设计了一种用于检测设备的往复运动机构。该装置借助于分别设置在公模、母模上的滑柱、滑槽为摩擦载体，使摩擦面积集中，并减少了摩擦接触面积，降低了摩擦系数，充分发挥活塞式往复运动之滑动功效，从而大大提高了往复运动机构的使用寿命和设备检测精度，降低了因摩擦碰撞及滑动抵撞而损伤检测设备的发生概率。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图（零件爆炸图）；

图2是本实用新型公模、母模合模状态示意图；

图3是本实用新型俯视图；

图4是滑柱与卡扣关系示意图；

图5是现有往复运动机构示意图。

附图中各部件的标号表示如下：10.现有检测装置母模，11.现有检测装置公模，20.母模，21.公模，22.滑柱，23.滑槽，24.卡扣，25.运动间隙。

具体实施方式

参看图5，这是现有检测设备往复运动机构，由图可清楚看出现有检测装置公模11置于现有检测装置母模10内。当检测设备在设计之需求上，必须大量重复某一种往复运动，可借助于上述母模公模的结合关系，重复检测设备所需的往复直线运动。由于公模、母模间较大的接触摩擦面积，存有背景技术中所阐述的种种弊端。

改进后的本实用新型参看图1、图2，它由公模、母模组成，公模、母模为相对直线往复运动关系，母模设有与公模外廓匹配的包覆结构，母模20视检测仪器或设备需求设置于检测仪器或设备的平台上（图中未示）。公模21与检测仪器或设备的运动机构（图中未示）连接，公模相对母模往复运动，以实现检测仪器或设备的工作要求。所述母模20上设有数个滑槽23，所述公模21与母模相对应的面上固定有与滑槽匹配的数个滑柱22，滑柱、滑槽滑动配合，借助于滑柱与滑槽，使公模、母模相互间上下往复运动发挥其活塞式往复运动之滑动功效，降低摩擦系数及抵销干涉摩碰。

参看图3，在图示实施例中，母模20、公模21均为立方体形，除了立方体形，亦可根据检测设备仪器需求决定其形状，不论圆形、四边形、多边形皆可。所述滑槽23设置在母模棱边处，所述滑柱22设置在公模周边，所述公模与母模间留有运动间隙25。

为了防止往复运动中，滑柱22与滑槽23底部抵触，各滑柱22的高度要小于各滑槽23的深度。

参看图4，所述各滑槽23底部设有卡扣24，卡扣24为档止滑柱22的作用组件。

以上实施例仅为说明本实用新型之较佳实施方案而已，并非因此而局限本发明创造之专利保护范围，故凡运用本发明创造设计之构思而进行的简易修饰及等效结构变化，均应包含于本实用新型的专利保护范围内。