[实用新型]光谱分析试块模具有效

专利信息
申请号: 201220434801.5 申请日: 2012-08-30
公开(公告)号: CN202715773U 公开(公告)日: 2013-02-06
发明(设计)人: 孙袁 申请(专利权)人: 桐乡合德机械有限公司
主分类号: B22C9/06 分类号: B22C9/06;G01N1/28
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人: 尉伟敏
地址: 314500 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 光谱分析 模具
【权利要求书】:

1.一种光谱分析试块模具,包括底板(1)及设于底板(1)上的左半模(2)和右半模(3),左半模(2)、右半模(3)和底板(1)共同围合成试块型腔(9),其特征在于:在所述底板(1)的上表面设有水平滑槽(4),对接后的左半模(2)和右半模(3)通过水平滑槽(4)夹紧固定在底板(1)上。

2.根据权利要求1所述的光谱分析试块模具,其特征在于:在所述左半模(2)上对应于右半模(3)的配合面的一端设有前纵向开口槽(5),在右半模(3)上设有与前纵向开口槽(5)互配的前纵向凸台(6),在左半模(2)上对应于右半模(3)的配合面的另一端设有后纵向凸台(7),在右半模(3)上设有与后纵向凸台(7)互配的后纵向开口槽(8)。

3.根据权利要求1或2所述的光谱分析试块模具,其特征在于:所述左半模(2)与右半模(3)对接后为长方体结构,且左半模(2)和右半模(3)相对水平滑槽(4)的中心面呈中心对称分布。

4.根据权利要求1或2所述的光谱分析试块模具,其特征在于:所述水平滑槽(4)为水平通槽。

5.根据权利要求1或2所述的光谱分析试块模具,其特征在于:所述试块型腔(9)的轴心线与水平滑槽(4)的底面垂直,且试块型腔(9)在左半模(2)和右半模(3)上呈对称分布。

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